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产品名称/型号
产品简单介绍
UVISEL在线椭偏仪HORIBA堀场 安徽供应
UVISEL
UVISEL在线椭偏仪HORIBA堀场 安徽供应UVISEL相位调制型光谱椭偏仪是一款可在线测量薄膜厚度和光学特性的设备,可为客户听过定制化交钥匙工程。它的测试速度快,50ms即可获得数据,可有力的监控整个膜的均匀性。UVISEL的激发和收集头设计非常容易耦合到辊对辊系统中,同时软件具有先进的通信能力满足辊对辊生产
UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪研究级HORIBA一手
UVISEL PLUS
UVISEL PLUS椭圆偏振光谱仪研究级HORIBA一手UVISEL Plus椭圆偏振光谱仪为先进薄膜、表面和界面表征提供了模块化和性能的优化组合。UVISEL Plus作为一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型,它采用了PEM 相位调制技术,与机械旋转部件技术相比, 能提供更好的稳定性和信噪比。光谱范围从190nm到2100nm。
UVISEL Plus In-Situ在线监控椭偏仪浙江供应
UVISEL Plus In-Situ
UVISEL Plus In-Situ在线监控椭偏仪浙江供应UVISEL Plus在线监控椭偏仪可以很容易的安装在各类反应腔(PECVD、MOCVD、磁控溅射、蒸镀、ALD和MBE),实时监控薄膜沉积或刻蚀过程。UVISEL Plus在线椭偏仪结合了速度快、灵敏度高、动态范围宽和准确等优点,使其能够在原子层水平监控沉积/刻蚀,即使过程速度比较快也可实现。
真空紫外椭偏仪UVISEL 2 VUV 苏州供应
UVISEL 2 VUV
真空紫外椭偏仪UVISEL 2 VUV 苏州供应UVISEL 2 VUV专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高准确性;超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。光谱范围可覆盖147-2100nm。UVISEL 2 VUV能够在充氮气或抽真空模型下工作。整个机械设计经过优化,氮气消耗量低至6L/min,载样速度快,2分钟内即可完成。真空样品仓门朝向操作人员更便于样品装载。
Smart SE- 功能强高性价比椭偏仪江苏总代
Smart SE
Smart SE- 功能强高性价比椭偏仪江苏总代Smart SE 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快,准确。它可以表征几埃到20µm薄膜厚度、光学常数(n, k)以及薄膜结构特性(如粗糙度、光学梯度及各向异性等)。Smart SE利用 DeltaPsi2 软件平台在几分钟内对450-1000nm的光谱数据进行采集、建模分析。自动化双软件操作平台,从简化的工作流程到**研发,满足不同层次和需求的客户。
Auto SE - 自动化薄膜测量工具国内总代
Auto SE
Auto SE - 自动化薄膜测量工具国内总代Auto SE是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮,几秒钟内即可自动完成样品测量和分析,并提供完整的薄膜特性分析报告,包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。
无锡供应HORIBA堀场空气颗粒物监测仪APDA-371
APDA-371
国内总代HORIBA堀场空气颗粒物监测仪APDA-371 用于悬浮颗粒物 (SPM) 的 APDA-371 空气颗粒物监测仪可确保长期稳定性,具备自我诊断功能。使用特氟龙滤纸带,能有效收集颗粒物。测量原理满足 EU 和 EPA 规定,并且还通过了 TueV 型式批准。
HORIBA带X射线荧光的连续颗粒物监测仪PX-375
PX-375
国内总代HORIBA堀场带X射线荧光的连续颗粒物监测仪PX-375 APNA-370采用了双向交替流动调制型化学发光法和相关计算法的组合,这使单检测器有了很大的改进和提高,从而能对 NO、NO2 和 NOx 进行连续监测。这种设计也确保了良好的稳定性和高灵敏度。该仪器的标准配置中包括了一个具有自动循环功能的干燥单元,为臭氧发生器提供干燥空气,使长期连续监测成为可能。
昆山供应HORIBA堀场碳氢化合物THC监测仪APHA-370
APHA-370
昆山供应HORIBA堀场碳氢化合物THC监测仪APHA-370 APHA-370采用交替流动调制、选择性催化氧化燃烧与氢火焰离子化检测法相结合,连续监测大气中THC、NMHC 和 CH4浓度。APHA-370 采用独立的内部干法采样设备,以实现高水平的灵敏度和准确度。
南京HORIBA大气污染用臭氧监测仪APOA-370
APOA-370
南京供应HORIBA大气污染用臭氧监测仪APOA-370 APOA-370 采用了交替流动调制型紫外线吸收技术连续监测大气中的臭氧浓度。APOA-370 采用独立的内部干法采样设备,以实现高水平的灵敏度和准确度。由于干法能够连续监测和即时分析处于未改变状态的气体,并且维护要求极低,因此一直是监测大气污染的主要方法。
苏州HORIBA大气污染用一氧化碳监测仪APMA-370
APMA-370
国内总代苏州HORIBA堀场大气污染用一氧化碳监测仪APMA-370 APMA-370 是一种使用交替流动调制非分散红外吸收法连续监测 CO 浓度的设备。APMA-370 采用独立的内部干法采样设备,以实现高水平的灵敏度和准确度。由于干法能够连续监测和即时分析处于未改变状态的气体,并且维护要求极低,因此一直是监测大气污染的主要方法。
浙江有售大气硫化氢监测仪HORIBA堀场APSA-370/CU-1
APSA-370/CU-1
浙江有售大气硫化氢监测仪HORIBA堀场APSA-370/CU-1 APSA-370/CU-1大气硫化氢监测仪是利用紫外荧光法测量 H2S 在臭氧的催化作用下生成的 SO2 浓度。为了降低环境湿度的影响,内置湿度影响曲线。催化剂的稳定反应可使仪器长期稳定运行。APSA-370/CU-1 大气硫化氢监测仪由将 H2S 氧化成 SO2 的转换器单元 CU-1和大气污染监测用 SO2 监测仪APSA-370 组成。
APSA-370大气污染监测用二氧化硫监测仪HORIBA
APSA-370
国内总代APSA-370大气污染监测用二氧化硫监测仪HORIBA堀场APSA-370 采用了新的检测器和光学系统,在低背景值下获得了高灵敏度,同时还大大提高了测量结果的稳定性。APSA-370 荧光池设计特别,能将水分对 SO2 测量结果的干扰降到较低程度。该仪器内置了带有选择性透过膜的芳香烃阻隔器,这样就大大减少了相关成分的干扰。结合HORIBA 所设计的流路,在延长阻隔器工作寿命的同时避免由于样品流量的变化对测量结果的影响。
江苏供应HORIBA堀场大气氨监测仪APNA-370/CU-2
APNA-370/CU-2
江苏供应HORIBA堀场大气氨监测仪APNA-370/CU-2 大气氨监测仪APNA-370/CU-2 大气氨浓度监测装置由将NH3氧化成NOX的转换器单元(CU-2)和大气污染监测用NOX分析仪(APNA-370)组成。仪器利用化学发光法(CLD)测量氨气在臭氧的作用下生成的NOX的浓度。HORIBA研发的交替流动调制型检测器可以确保长时间稳定可靠运行。
HORIBA大气污染监测用氮氧化物分析仪APNA-370
APNA-370
国内总代HORIBA堀场大气污染监测用氮氧化物分析仪APNA-370 APNA-370采用了双向交替流动调制型化学发光法和相关计算法的组合,这使单检测器有了很大的改进和提高,从而能对 NO、NO2 和 NOx 进行连续监测。这种设计也确保了良好的稳定性和高灵敏度。该仪器的标准配置中包括了一个具有自动循环功能的干燥单元,为臭氧发生器提供干燥空气,使长期连续监测成为可能。
扬州供应HORIBA堀场离心式粒度分析仪CN-300
CN-300
扬州供应HORIBA堀场离心式粒度分析仪CN-300 CN-300 的测量范围为 10 nm - 40 μm,可施加高达 30,000g 的离心力,并使用温度控制为各种样品产生准确的测量结果。根据客户反馈开发并改进现有和新的 HORIBA 技术,其结果是提供**可靠的操作,同时也易于使用的分析仪。
郑州HORIBA堀场 纳米颗粒追踪分析仪ANALYSETTE 28
ANALYSETTE 28
杭州HORIBA堀场 纳米颗粒追踪分析仪ANALYSETTE 28 ViewSizer 3000的三个激光器可同时工作,可在同一样品中收集各种尺寸的*准确的分布和浓度信息。如果某一颗粒来自某一激光的散射光信号太强使检测器达到饱和,软件会自动使用来自较低功率激光器的数据来确保获得*准确的尺寸和浓度信息。另一方面,当来自某一激光的散射光信号太弱而无法检测时,软件会使用更高功率激光的数据来准确跟踪颗
杭州HORIBA堀场 纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000
ViewSizer 3000
杭州HORIBA堀场 纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000 ViewSizer 3000的三个激光器可同时工作,可在同一样品中收集各种尺寸的*准确的分布和浓度信息。如果某一颗粒来自某一激光的散射光信号太强使检测器达到饱和,软件会自动使用来自较低功率激光器的数据来确保获得*准确的尺寸和浓度信息。另一方面,当来自某一激光的散射光信号太弱而无法检测时,软件会使用更高功率激光的数据来准确跟踪颗粒。
浙江HORIBA崛场半导体激光粒度分析仪mini LA-350
mini LA-350
浙江区域供应HORIBA崛场半导体激光粒度分析仪HORIBA LA-350 激光粒度分析仪是一款性能高、价格低、体积小巧的粒径分析仪器。LA-350广泛应用于浆料、矿物和造纸行业等多种领域。基于LA系列分析仪的先进光学设计,LA-350实现了高性能、易操作、低维护和高效益的优点。LA-350体积小巧(297 mm x 420 mm),可以有效节省实验室空间。除此之外,LA-350巧妙的设计、高质量的制造确保仪器操作方便、测量范围宽 (0.1-1000 µm)和测量结果准确。
无锡HORIBA堀场半导体激光粒度分析仪LA-960V2
LA-960V2
无锡供应HORIBA堀场半导体激光粒度分析仪LA-960V2 LA-960V2 秉承 HORIBA 一贯的优异设计**行业方向。其直观的软件、特有的附件和优异的性能将科学认知推向未知世界,是LA系列仪器的突破性演变。
总代HORIBA崛场有机污染物监测仪OPSA-150
OPSA-150
总代HORIBA崛场有机污染物监测仪OPSA-150 HORIBA推出采用具有25年以上丰富经验的独特测量方法---「旋转式单元长度调整系统」的新型有机污染物监测仪。此装置可用于以下三个主要方面:水质总量控制中排出口的有机污染物质的监测,水源地取水口处的有机污染物质的监测,工业过程中的有机污染物质的监测,如酚的监测等。
无锡有售HORIBA崛场半导体油分分析仪OCMA-550
OCMA-550
无锡有售HORIBA崛场半导体油分分析仪OCMA-550 OCMA-550 用于测量零部件表面的残油和土壤中粘附的油分。 整个测量过程十分简单,只需将待测样液加入比色皿,然后放置到仪器内,即可实现测量。人性化的简单设计,单手即可操作测量盖的开/关。对于可以萃取的油分是*好的测量方法,如评估零部件表面的残油,测量食物中的油分。
昆山供应HORIBA崛场 半导体油分分析仪OCMA-500
OCMA-500
昆山供应HORIBA崛场 半导体油分分析仪OCMA-500 加入样液和萃取剂后,只需要按下“ENT”键,就可以自动完成从萃取到排液的整个过程。无需开/关阀门的额外操作,追求测量的快速化。本机型为彩色LCD显示屏,提升了电机搅拌速度,改进了萃取罐设计增加了背光灯,提高了可操作性。
南京供应HORIBA崛场在线监控椭偏仪UVISEL Plus In-Situ
UVISEL Plus In-Situ
南京供应HORIBA崛场在线监控椭偏仪UVISEL Plus In-Situ UVISEL Plus在线监控椭偏仪可以很容易的安装在各类反应腔(PECVD、MOCVD、磁控溅射、蒸镀、ALD和MBE),实时监控薄膜沉积或刻蚀过程。UVISEL Plus在线椭偏仪结合了速度快、灵敏度高、动态范围宽和准确等优点,使其能够在原子层水平监控沉积/刻蚀,即使过程速度比较快也可实现。
浙江供应HORIBA崛场真空紫外椭偏仪UVISEL2VUV
UVISEL 2 VUV
浙江供应HORIBA崛场真空紫外椭偏仪UVISEL2VUV UVISEL 2 VUV专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高准确性;超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。光谱范围可覆盖147-2100nm。UVISEL 2 VUV能够在充氮气或抽真空模型下工作。整个机械设计经过优化,氮气消耗量低至6L/min,载样速度快,2分钟内即可完成。真空样品仓门朝向操作人员更便于样品装载
江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SE
Smart SE
江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SESmart SE 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快,准确。它可以表征几埃到20µm薄膜厚度、光学常数(n, k)以及薄膜结构特性(如��糙度、光学梯度及各向异性等)。Smart SE是一款性价比极高的薄膜研发工具,以经济实惠的价格提供了研究级的性能。标配一套完整样品可视化系统,准确定位分析位置及区域,7个不同尺寸的微光斑可用于微区特征分析。
总代HORIBA崛场 椭圆偏振光谱仪UVISEL PLUS
UVISEL PLUS
总代HORIBA崛场 椭圆偏振光谱仪UVISEL PLUS 光谱范围从FUV到NIR:190-2100nm UVISEL Plus椭圆偏振光谱仪为先进薄膜、表面和界面表征提供了模块化和性能的优化组合。 UVISEL Plus作为一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型,它采用了PEM 相位调制技术,与机械旋转部件技术相比, 能提供更好的稳定性和信噪比。光谱范围从190nm到2100nm。
HORIBA崛场一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
Auto SE
国内总代HORIBA崛场一键式全自动快速椭偏仪 Auto SEAuto SE是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮,几秒钟内即可自动完成样品测量和分析,并提供完整的薄膜特性分析报告,包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。Auto SE全自动化设计、一键式操作,功能齐全。配备自动XYZ样品台进行成像分析,自动切换微光斑,多种附件可选,以满足不同的应用需求。
江苏HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100V2
SZ-100V2
江苏区域供应HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100V2纳米技术的研发是一个持续不断的过程,这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸,从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
HORIBA纳米粒度及电位分析仪粒度仪SZ-100-Z2
SZ-100-Z2
总代HORIBA纳米粒度及电位分析仪粒度仪SZ-100-Z2SZ-100-Z2 纳米技术的研发是一个持续不断的过程,这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸,从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
总代日本HORIBA纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2
SZ-100-S2
总代日本HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2 纳米技术的研发是一个持续不断的过程,这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸,从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
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