日本HIOKI日置局部放电检测仪ST4200 成都藤田光学仪器有限公司

简单介绍

日本HIOKI日置局部放电检测仪ST4200 ● 双模式局部放电检测：交流局部放电(交流PD)和脉冲局部放电(脉冲PD) ● 采用高频 CT(电流互感器)，实现抗干扰能力强的局部放电检测 ● 搭配使用SW2001，在复合检测系统中也能实现稳定的局部放电检测

产品描述

日本HIOKI日置局部放电检测仪ST4200

检测方式	基于检测阻抗和带通滤波器的放电电荷量测量方法符合IEC 60270的检测标准
测试频率范围 (施加电压)	45 Hz ～ 1.1 kHz
电荷量测量范围（Q）	10 pC ≦ Q ≦ 500 pC（被测物静电电容 C：200 pF ≦ C < 2 nF） 10 pC ≦ Q ≦ 2500 pC（被测物静电电容C：2 nF ≦ C ≦ 10 nF)
测量项目	【通常模式】重复发生的PD强度(Q max)，PD脉冲发生数(m，m+，m-)，PD脉冲发生率(n)，电压有效值(U rms)，电压波高值(Up+，Up-)，电压峰峰值(Upp)，平均放电电流(I)，放电功率(P)，二次率(D)，PD脉冲的表观电荷(q)，PD脉冲相位角(φ) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD起始电压(Ui)、PD熄灭电压(Ue)

检测方式	基于CT和数字滤波器的放电电流检测符合IEC 61934 Edition 2.0的检测方法
采样速度	200 MS/s
测量项目	【通常模式】 PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD发生起始电压(PDIV)，重复PD发生起始电压(RPDIV)，重复PD熄灭电压(RPDEV)，PD熄灭电压(PDEV)，重复PD峰值放电量(RQpk)

检测方式

基于CT和数字滤波器的放电电流检测

符合IEC 61934 Edition 2.0的检测方法

采样速度

200 MS/s

测量项目

【通常模式】
PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m)
【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值)
PD发生起始电压(PDIV)，重复PD发生起始电压(RPDIV)，重复PD熄灭电压(RPDEV)，PD熄灭电压(PDEV)，重复PD峰值放电量(RQpk)

控制内容	作为局部放电的高压发生源，会用到绝缘耐压测试仪、脉冲线圈测试仪去联动控制
对应仪器（2025年2月为止）	自动绝缘/耐压测试仪3153、脉冲线圈测试仪ST4030、ST4030A等
测量项目	【通常模式】 PD峰值放电量(Qpk)、脉冲序列中的PD发生数(m) 【PDIV模式】(在通常模式的值中追加下述值) PD发生起始电压(PDIV)，重复PD发生起始电压(RPDIV)，重复PD熄灭电压(RPDEV)，PD熄灭电压(PDEV)，重复PD峰值放电量(RQpk)

测量模式	普通模式：施加一定电压，进行单次或连续测量 PDIV模式：根据标准的要求，在改变施加电压的同时进行测量
功能	判定功能，图表显示功能（交流PD：电压波形、PD脉冲监视器/脉冲PD：电流波形、PD脉冲监视器）
外部存储设备	SD 存储卡、U盘、SSD ※请务必使用本公司的选件。
放射性无线频率	50 pC以下（在10 V/m时）
电磁场的影响	50 pC以下(在10 V时)
传导性无线频率电磁场的影响	50 pC以下(在10 V时)
叠加到电源上的脉冲干扰的影响	50 pC以下(1kV，叠加脉宽50 ns的脉冲干扰时)
接口	LAN, USB, RS-232C（请使用市售USB串行转换线）, EXT. I/O, MONITOR输出
电源	额定电源电压：AC 100 V～240 V, 额定功率：300 VA
尺寸·体积	约353（W）×约235（H）×约154.8（D） mm（不含突起物）, 约7.3 kg（安装U8332时）, 约7.1 kg（未安装U8332时）
附件	电源线 × 1, 启动指南 × 1, 使用注意事项 × 1

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