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Temptronic ThermoStream 高低温测试机
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产品名称/型号
产品简单介绍
inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试
电源管理芯片由于多是在狭小空间内工作, 散热的条件不好, 大多是在高温的环境中长时间工作, 电源芯片经常经历快速升温的情况, 甚至经历在电压不稳时快速变温的情况, 所以电源芯片在出厂时需要经过测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 这点十分重要.
inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件高低温测试
inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件自动化高低温测试 美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ - 350℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台兼容 inTEST 软件, 操作简单.
inTEST 高低温冲击测试
inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试 不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本!
inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试
inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试: 微控制器 MCU 芯片广泛应用于消费电子(手机, 打印机),计算机网络,工业控制,医疗设备,汽车电子以及智慧家庭等领域. 其中,汽车是 MCU 芯片最大的应用市场,传统汽车单车会平均用到70个左右,而新能源汽车则需要用到300多个,应用领域包括ADAS,车身,信息娱乐,动力系统等,几乎无处不在.
inTEST 热流仪光通信模块
inTEST ThermoStream 高低温测试机光通信行业应用: 光纤收发器 Transceiver 高低温测试, SFP 光模块高低温测试
如何选择 inTEST 热流仪配套测试腔
美国 inTEST 超高速高低温循环试验机,inTEST 创立于 1981年是美国上市公司,自2000年起收购 Temptronic,Sigma system 及 Thermonics 品牌整合为 inTEST Thermal Solutions。inTEST 测试腔体ThermoChamber™ 可与 ThermoStream 温度循环系统搭配进行高低温循环测试, inTEST 设计出多种容易携带及更换的测试腔,这也是您使用 inTEST -ATS 超高速高低温循环试验机进行温度测试时理想的搭配工具。在选择测试腔体时,应考虑腔体尺寸大小、密合方式及温度范围等要素。
inTEST ThermoStream 已取代 Temptronic 和Thermonics
inTEST ATS-500 系列高速温度循环测试机:从小型台式的 -20℃ 到 -80℃ 的大型机型,适用于实验室或工业生产环境中、传统的半导体和小装配温度测试。
Temptronic ThermoChuck
美国 inTEST 旗下 Temptronic ThermoChuck 系统利用导电加热和冷却系统,搭配晶圆探针台共同使用,提供 -65 至 +300°C 高低温环境,适用晶圆 150 mm、200 mm、300 mm ,可用于激光微调 Laser Trim 和晶圆老化 Burn-in 测试,例如低泄漏探测(fA)和高电压探测(10 kv),适用于晶圆、芯片在电高低温环境下的特性描述、失效分析等。
inTEST DCP-102 接触式温度冲击测试机
美国 inTEST 推出新型号 Temptronic® ThermoSpot® 接触式温度冲击测试机 DCP-102,高灵敏度,适用于集成电路 IC 特性分析、高低温测试、失效分析,提供可选的 interface 已满足不同尺寸 IC。
inTEST ATS-515 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机, 用于对零件, 混合动力, 模块,子装配和印刷电路板进行快速, 准确的热调节. 无需使用液氮(LN2)或液态二氧化碳(LCO2)即可实现超低温.
inTEST ATS-750E 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ATS-750E 高低温冲击测试机温度冲击范围: -85°C 至 +300°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题!
inTEST ATS-525 高低温冲击热流仪
Temptronic ThermoStream ATS-525 台式高低温循环测试机, 可选配小推车方便移动操作. 温度测试范围:-60°C 至 +225°C; 旋钮式控制面板, 支持测试数据存储.
inTEST ATS-505 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机, 提供先进的温度源, 可快速, 准确地对零部件, 零件, 混合芯片, 模块, 子组件和 PCB 印刷电路板进行热调节. 无需使用液态氮 LN3 或液态二氧化碳 LCO2 即可实现低温.
inTEST ATS-770E 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求.
inTEST ATS-730E 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ATS-730E 高低温冲击测试机温度冲击范围: -85°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题! inTEST ATS-730E 是旧款高低温测试机 Temptronic TP04390 全新升级款!~
inTEST ATS-710E 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ThermoStream 热流仪 ATS-710E 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream® OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题! inTEST ATS-710E 是 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 升级款!~
inTEST ATS-545 高低温冲击热流仪
美国 inTEST 高低温测试机: ThermoStream ATS-545 温度范围 -75°C 至 +225°C; ESD 防静电保护设计, 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却. ATS-545 是旧款热流仪 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款!inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.
inTEST ATS-535 高低温冲击热流仪
美国 inTEST ThermoStream ATS-535 是内部集成空压机的高低温冲击机 ( 热流仪 ),整机噪音 < 70 dBA, 不需要额外安装即可完成各类芯片的试验. 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 除了机动性方便移动外, 更可省去您重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 解决了因为环境受限无法提供压缩气体的测试难题.
inTEST ECO-710E 高低温冲击热流仪
美国 inTEST 环保型热流仪 ECO-710, 依据实验室环境要求研发设计, 操作电流仅需 20 安培, WhisperStream® 静音设计保证工作噪音低于 56 dBA. 低能耗, 低噪音, 低散热的功能特点满足实验室研发, 半导体行业要求. inTEST ThermoStream ECO-710 高低温冲击测试机适用于半导体芯片高低温测试, PCB 板高低温测试, 电子模块高低温测试等.
inTEST ThermoStream 高低温冲击热流仪
美国 inTEST 旗下 Temptronic ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 移动设计, 通过输出快速, 清洁干燥的冷热循环冲击气流, 为芯片温度测试提供快速准确的温度环境, 适合模拟芯片在各种温度测试和调节的应用, 广泛应用于集成电路 IC 卡, 电子芯片, 闪存, 功率器件, 光纤收发器或电子电路的在电高低温循环试验 Thermal cycle, 高低温冲击测试 thermal shock, 特性分析等.
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