产品名称：日本Photonic二维双折射评估系统-宽幅量

精度标杆：位相差重复精度达 σ < 0.1 nm，轴方位精度 σ < 0.1°（位相差 >10nm 时），实现亚纳米级测量 。

宽幅量程：WPA系列位相差测量范围扩展至 0~3500 nm，兼顾大、小位相差样品，规避单波长数据折返问题 。

全系覆盖：从 WPA-micro 显微镜式微观系统到 WPA-200-XL 超大台面型号，视野覆盖 80μm 至 50cm 。

瞬时成像：搭载高分辨率偏振相机，无需逐点扫描，一次拍摄即可获取全域相位差及轴方向分布云图 。

微观解析：WPA-micro 型号集成奥林巴斯/尼康显微镜，支持微观形貌与双折射复合分析，并具备反射评估功能，支持金属等不透明样品 。

产线在线：KAMAKIRI 系列支持卷膜在线全幅检测，可对接产线（*高30m/min），实时输出整卷薄膜相位差分布 。

应力可视化：支持应力值一键换算，直观呈现材料内部残余应力分布云图，快速定位应力集中点 。

智能软件：配套 WPA-View 专业软件，具备实时解析、广角校正、数据对比及报告生成等**功能 。

操作便捷：机身轻量化设计（WPA-200 约 13kg），AC100~240V 宽幅电源适配，样品放置后即可快速启动检测 。

应用广泛：在光学薄膜、镜片、SiC 晶体缺陷检测、高分子注塑件等领域市场占有率超 70%，是行业标准检测工具 。