ADCMT 爱德万测试设备无触点

高通量

• 与T558x（512台设备）相媲美的高并行测试容量（16,896台设备）

装机条件优化

• 减少核心测试仪的配件、设备
• 减少生产空间
• 减少BI到核心测试之间的损失时间
• 支持全自动化（无人生产）

继承测试仪操作系统（FutureSuite）

• 缩短测试程序开发的TAT，以转化为核心测试程序（支持ATL）
• 使用多功能工具改善设备评估

全球SE和FS团队位于WW

• 部署高度专业的全球支持基地，以保持解决方案的质量和可靠性
  例如：程序编码、调试、关联、维护

超高精度、分辨率拉满
电压精度可达 ±0.015%，电流 ±0.02%；分辨率到10nV（纳伏）、100fA（飞安）、1μΩ（微欧），5.5~8.5 位显示，微小信号也能精准捕捉。
超低噪声、长期稳定性极强
输出噪声低至 μV 级，漂移控制在5ppm / 年；自带自校准，减少温漂、时漂，长期不用频繁校准，数据一致性好。
源测一体、双极性输出
既是电压 / 电流源、又是监测表；支持双向吸 / 灌电流，可正负极性输出，适合半导体、传感器、器件 IV 特性测试。
微弱信号测量能力突出
能测1fA 超微电流、10¹⁷Ω 超高阻，低功耗电阻测量（100μA 小电流），避免元件自热误差，适配热敏、光敏、绝缘材料。
高速采样 + 并行 / 多通道测量
*高 20 万次 / 秒采样；双 A/D 双通道同步测，支持多机联动、并行测试，大幅提升产线 / 研发测试效率。
接口齐全、适配自动化 ATE 集成
标配 USB/LAN、可选 GPIB，支持 SCPI 指令；可直接对接 PLC、单片机、测试系统，适合半导体、电子元件产线自动化。
宽量程、多功能覆盖全场景
电压 μV~1000V、电流 fA~10A、电阻 μΩ~10¹⁷Ω；集成扫描、脉冲（*小 25μs）、序列测试、热电偶校准等专业功能。
抗干扰强、适配严苛工况
屏蔽设计、抗电磁 / 杂光干扰；宽温（-10℃~+60℃）、防尘结构，实验室、工厂产线、现场巡检都稳定。
专业细分、垂直行业适配
覆盖半导体器件、光器件（光功率计）、传感器、电池、材料分析；针对微小元件、精密器件做专属优化，场景匹配度高。
无触点长寿命、免维护
纯电子测量、无机械磨损；可靠性高、故障率低，长期稳定运行，降低维护成本、延长设备寿命。

目标设备		DRAM 核心+老化 LPDDR 核心 + 老化
并行计数	系统	16,896 @ 48Slot × 352 DDR4 DIB
	板	352 :22ROW × 16COL (100MHz/200Mbps)
*大频率		100MHz/200Mbps 200MHz/400Mbps（许可选件）
OTA（整体定时精度）		+/-500ps
DR/CP SKEW		500ps p-p
格式化通道		34DR + 27IO + 8DSEL（设备选择）
驱动程序		13,056 DR (34DR × 8child × 48B'd)
I/O		20,736 IO (27IO × 16child × 48B'd)
DSEL		3,072 DSEL (8DSEL × 8chid × 48B'd)
系统尺寸[mm]		W:3,815 × D:2,150 × H:2,330
系统软件		FutureSuite