产品名称：ADCMT 爱德万测试设备

非常灵活的测试系统，具有对低成本的闪存存储器进行前道晶圆测试和后道封装测试所需的所有功能。

超高精度、分辨率拉满
电压精度可达 ±0.015%，电流 ±0.02%；分辨率到10nV（纳伏）、100fA（飞安）、1μΩ（微欧），5.5~8.5 位显示，微小信号也能精准捕捉。
超低噪声、长期稳定性极强
输出噪声低至 μV 级，漂移控制在5ppm / 年；自带自校准，减少温漂、时漂，长期不用频繁校准，数据一致性好。
源测一体、双极性输出
既是电压 / 电流源、又是监测表；支持双向吸 / 灌电流，可正负极性输出，适合半导体、传感器、器件 IV 特性测试。
微弱信号测量能力突出
能测1fA 超微电流、10¹⁷Ω 超高阻，低功耗电阻测量（100μA 小电流），避免元件自热误差，适配热敏、光敏、绝缘材料。
高速采样 + 并行 / 多通道测量
*高 20 万次 / 秒采样；双 A/D 双通道同步测，支持多机联动、并行测试，大幅提升产线 / 研发测试效率。
接口齐全、适配自动化 ATE 集成
标配 USB/LAN、可选 GPIB，支持 SCPI 指令；可直接对接 PLC、单片机、测试系统，适合半导体、电子元件产线自动化。
宽量程、多功能覆盖全场景
电压 μV~1000V、电流 fA~10A、电阻 μΩ~10¹⁷Ω；集成扫描、脉冲（*小 25μs）、序列测试、热电偶校准等专业功能。
抗干扰强、适配严苛工况
屏蔽设计、抗电磁 / 杂光干扰；宽温（-10℃~+60℃）、防尘结构，实验室、工厂产线、现场巡检都稳定。
专业细分、垂直行业适配
覆盖半导体器件、光器件（光功率计）、传感器、电池、材料分析；针对微小元件、精密器件做专属优化，场景匹配度高。
无触点长寿命、免维护
纯电子测量、无机械磨损；可靠性高、故障率低，长期稳定运行，降低维护成本、延长设备寿命。