产品名称：TSI美国 扫描迁移率粒径测定仪

TSI美国 扫描迁移率粒径测定仪 3938W50-CEN10

TSI美国 扫描迁移率粒径测定仪 3938W50-CEN10

宽范围环境监测扫描迁移率粒径测定仪 （SMPS） 3938W50-CEN10
型号：3938W50-CEN10使用这种符合 CEN 标准的颗粒分级系统连续监测大气中的超细颗粒。这款宽范围扫描迁移率粒径谱仪 （SMPS™） 符合欧洲标准化委员会 （CEN） 技术规范 CEN/TS 17434：2020 的所有要求。该技术标准侧重于大气中粒度分布的协调测量。
宽范围环境监测扫描迁移率粒径测量仪 （SMPS™） 3938W50-CEN10 提供的数据可以轻松集成到现有的监测网络中。与采样系统和可选的独立冷凝粒子计数器 （CPC） 一起，监测站可以使用完整的解决方案来监测超细颗粒。
产品详情
自 1990 年代后期以来，TSI SMPS™ 系列用于气溶胶研究，颗粒测量涵盖成核、Aitken 和积累模式（从 1 nm 到 1 μm）。很快，SMPS™ 就走出了学术实验室，并在研究中心、环境保护署 （EPA） 和全球大气观察 （GAW） 计划的大气监测站建立起来。
3938W50-CEN10 型号中包含的新更新扩展了 SMPS™ 的尺寸范围，使用差分迁移率分析仪 （DMA） 3083 在一次扫描中覆盖 10 nm 至 800 nm。我们还对匹配的采样系统进行了现代化改造，以提供空气质量监测的一站式解决方案。更新后的可选软件为大气监测提供了特别有价值的功能：采样系统的颗粒损失校正、扩展的数据自动导出和断电恢复模式。此外，现在可以导出未校正的原始浓度数据，以便为大型监测网络进行协调数据反演。
超细颗粒物监测的新手？TSI 提供从基础知识到安装的培训和支持。
应用
空气质量监测
环境室研究
室内空气质量研究
健康影响研究
基础气溶胶研究
特性和优势
粒径范围从 10 nm 扩展到 800 nm
基于 TROPOS Vienna 型 DMA 的新型 DMA 3083
3938W50-CEN10 型自动包含由欧洲气溶胶校准和表征中心 （ECAC） 的机构执行的校准，作为独立参考。如果需要，可以购买不含此校准的相同仪器（型号 3938W50），并单独获得 TROPOS 校准
扫描时间低至 1 分钟：捕获动态气溶胶分布（例如，机场附近）
专为 24/7/365 连续使用而设计
符合 CEN/TS 17434：2020 标准
与气溶胶湿度和温度传感器一起使用时，能够提供颗粒数据、相对湿度和温度的通用对数 RHT3000
3938 SMPS™ 型号系列允许用户更换组件以适应各种粒径范围