产品名称：TSI美国 通用扫描迁移率粒径测定仪

TSI美国进口 通用扫描迁移率粒径测定仪 3039
TSI美国进口 通用扫描迁移率粒径测定仪 3039

选择气溶胶尺寸测量的全球标准配置。30 多年来，TSI 扫描迁移率测分谱仪 （SMPS™） 一直在帮助获得气溶胶研究的新见解，并协助校准其他仪器。美国国家标准与技术研究院 （NIST） 和全球许多其他参考实验室使用 TSI SMPS™ 进行亚微米粒度分布测量。TSI SMPS™ 是研究人员进行纳米粒度分布测量的优选。
通用扫描迁移率 Particle Sizer SMPS 采用模块化、基于组件的设计，允许您选择实现粒度测量目标所需的组件。这款第三代型号具有非常高的尺寸分辨率、快速扫描（每次扫描 <15 秒）和自动组件识别功能。所有配置都易于使用，并提供*高质量的可用数据。
产品详情
扫描迁移率粒径谱仪 （SMPS™） 光谱仪是一种纳米颗粒粒度仪，能够准确和精密地测量空气中亚微米颗粒的粒度分布。它将电迁移率定量与单颗粒计数相结合，在离散尺寸通道中提供纳米颗粒浓度。SMPS™ 的尺寸分辨率能力高达每十倍频程 128 个通道，总共多达 384 个通道。
SMPS™ 3938 基于组件，允许用户定制其 SMPS 以满足其实验需求。用户可以在四种差分迁移率分析仪 （DMA）、六种冷凝粒子计数器 （CPC） 和两种不同的中和技术中进行选择，从而能够在 1 nm 至 1 μm 的范围内进行测量。当 SMPS 与光学粒径仪 （OPS） 或空气动力学粒径仪 （APS） 耦合时，连续测量范围可以分别扩展到 10 μm 或 20 μm。
应用
大气研究和环境监测
室内空气质量测量
成核/缩合研究
燃烧和发动机尾气研究
吸入毒理学研究
纳米技术研究和材料合成
特性和优势
高分辨率数据：128 个通道/十倍频程的分辨率，*多可达 384 个可能通道
尺寸范围广：从 1 nm 到 1,000 nm
符合 ISO 15900：2009 标准
快速测量： <15 秒扫描
浓度范围广，*高可达 107颗粒/厘米3
模块化组件设计，实现*大灵活性
用于独立作的触摸屏控制（无需计算机）
无需工具即可安装并自动检测组件，轻松设置
离散颗粒测量：适用于多模式样品
粒度测量与颗粒和流体的光学特性无关
广泛的系统选项：可选择水或丁醇 CPC;可选择传统或非放射性中和剂
内含物品
静电分级机，可选 DMA 色谱柱
六个 CPC 之一
气溶胶式仪器管理器®软件
气溶胶中和剂和用于数据收集的计算机必须单独购买。