如果将74LS125真值表（表1）里的“Z”改成“1”，则74LS125与74LS32在真值表上就没有区 别了。 实际上数字IC功能测试仪正是这样做的。读者可以用此类仪器，在74LS125测试状态下测试 74LS32，会发现测试结果是通过（PASS），反之在74LS32测试状态下测试74LS125，会发现测试结果 也是通过（PASS）。而这两种IC芯片毫无相同之处！原因就在于功能测试仪把“Z”当作“1”来处 理。显然IC功能测试仪，对输出有“三态”的IC测试无效！ 在SIMI-100仪器上进行上述操作，就不会出现这个结果，原因是：SIMI-100对74LS125进行了 有效的“三态”漏电流测试。因此**不会将这两种IC混为一谈。 3、由于数字IC功能测试仪不能进行直流参数测试，因此无法进行电源端功耗电流测试。许多功能相 同但直流参数（芯片材料不同）不相同的数字IC，是不能替换使用的。比如COMS与TTL 芯片，通常在 定型的电子产品中是不能替换使用的。 例如：74LS00 与74HC00 电源端功耗电流相差甚大，在实际应用中是不能替换使用的，而不测试电 源端功耗电流就难以能识别这两种IC。 上述种种问题只是数字IC功能测试仪测试问题的一部分，还有例如：“OC”也是一种功能， “OC”门如何测试？功能测试仪是否也将管脚相同的“OC”门与非“OC”门混淆了呢？有些计数器 的输入端也是输出端，对此类端口如何测试？双向总线如何测试？等等。在此笔者不做探究。 另外IC测试仪有具备下面两个基本特征： 1、 集成电路测试仪的测试（插座）管脚，除了正在测试以外的状态，应该维持高阻状态，因为许多被测 试的IC是不允许带电插拔，否则会造成IC的损坏。 2、 IC测试仪应该保证被测试的IC芯片即便完全损坏，也不应该损坏测试仪。 由于数字IC功能测试仪的管脚电路成本低廉，因此一些此类测试仪，无法保证这两个基本要求。 由于数字IC功能测试仪的价格低廉，因此被一些需要配备测试仪（如：需要通过某种认证）， 但又不实际使用（仅仅是摆设）的单位所采购。此类功能测试仪对电子产品的质量保障毫无意义！ 笔者认为用数字IC功能测试仪测试IC芯片，不如不测！他会给IC使用者带来新的麻烦。 有关数字IC有效的参数测试请参见《电子产品质量问题的*佳解决方案—数字集成电路参数 测试》一文。笔者极力建议使用IC测试仪的企业；建议将IC测试仪用于教学实验的高校：选用IC 参数测试仪。 数字IC功能测试仪并未在产品名称中标明“功能测试仪”的字样，还请测试仪的使用者仔细甄别。 笔者在此提供读者选择IC（参数）测试仪的两个简单的标准： 1、 单台仪器的重复性要好：用同一台仪器测试同一个IC芯片重复性要好。 2、 多台仪器的一致性要好：用多台同一机型的仪器，测试同一IC芯片，结果要基本一致。 对上述所讨论的问题感兴趣的读者可与我交流。
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