老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数测量，筛选剔除那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。 老化筛选的指导思想是，经过老化筛选，有缺陷的元器件会失效，而**品能够通过。这里必须注意实验方法正确和外加应力适当，否则，可能对参加筛选的元器件造成不必要的损伤。 目前老化筛选项目有高温储存老化、高低温循环老化、高低温冲击老化和高温功率老化等。 下面把各个试验方法作一简要介绍： （1）、高温储存老化：把器件置于150℃的恒温箱内放置168小时，考虑到我司实际情况，目前放置时间为48小时。 （2）、高低温循环老化：把器件置于-55℃的低温中15分钟，然后置于25℃的环境中5分钟，再置于150℃的环境中15分钟，如此循环10次。 （3）、高低温冲击老化：把器件置于0℃的环境中5分钟，然后取出马上置于100℃的环境中5分钟，接着取出马上置于0℃的环境中5分钟，如此循环10次。 （4）、高温功率老化：对于普通整流管、开关管等施加80％的VR额定电压，然后置于125℃的环境中168小时，考虑到我司实际情况，目前是置于105℃的环境中48小时；对稳压管我司目前是施加66％的功率置于70℃的环境中48小时。
二极管的加速寿命试验 加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。 通过加速寿命试验可达到以下目的： （1）、在较短时间里，对高可靠元器件的可靠性水平进行评估，可用外推法快速预测在规定条件下的失效率； （2）、在较短时间内，对元器件可靠性设计、工艺改进和可靠性增长的效果进行评估； （3）、在较短时间内，加速暴露元器件失效模式和机理，从而可正确地制定失效判据和筛选条件。 必须指出，元器件的电气规格参数指标与其性能稳定可靠是不同的概念，两者之间并没有直接的联系。规格参数良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，规格参数差一些的元器件，其可靠性也不一定低。电子元器件的大部分规格参数都可以通过仪表立即测量出来，但是它们的可靠性和稳定性却必须通过各种可靠性试验，或者大量（或长期）的使用之后才能判断出来。 电子元器件的失效率数据，可以通过对它的可靠性试验求得： λ＝失效率＝失效数÷（试验器件的总数×运用时间） 失效率的常用单位是Fit（1Fit＝10-9/h），一百万个元器件运用1000h有1个失效，就叫做1Fit。失效率越低，说明元器件的可靠性越高。
二极管使用的一些注意事项 二极管应该按照极性接入电路，大部分情况下，应该使二极管的正极（或称阳极）接电路的高电位，而稳压二极管的负极（或称阴极）要接电源的正极，其正极接电源负极。 二极管正常工作需要一定的条件，如果工作条件超过允许的范围，则不能正常工作，甚至造成**性的损坏。为使二极管能够长期稳定运行，必须注意下列事项： （1）、切勿使电压、电流超过器件手册中规定的极限值，并应根据设计原则选取一定的裕量。 （2）、允许使用小功率电烙铁进行焊接，焊接时间应该小于3～5s，在焊接点接触型二极管时，要注意保证焊点与管芯之间有良好的散热。 （3）、玻璃封装的二极管引线的弯曲处距离管体不能太小，一般不少于2mm。 （4）、二极管的位置尽可能不要靠近电路中的发热元件。 （5）、用稳压管时应注意，二极管的反向电流不能无限增大，否则会导致二极管中的热量过高而烧毁。因此，稳压管在电路中一般需要串联限流电阻，以限制耗散功率。