产品介绍：
KLXM-Pro机制砂粒度粒形分析仪，采用自由落体+超声分散模式，能够对10~10000微米范围内的干样机制砂颗粒进行实时采集、分析机制砂颗粒图像粒度分布、长径比、圆形度形貌分布等参数检测，仪器满足《Q-CR865-2022铁路混凝土用机制砂》标准、ISO13322-2:2021粒度分析.图像分析方法.第2部分:动态图像分析方法标准和GB/T21649.2-2025粒度分析图像分析法第2部分:动态图像分析法标准。
测量原理：
图1测量光路原理图
KLXM-Pro机制砂粒度粒形分析仪测量系统光路系统采用平行光源（远心光路）配合远心镜头组合，通过振动送料器将机制砂颗粒均匀输送落料口，机制砂颗���通过自由落体分散的方式，经过测量光路区域，配合高速工业相机，实时捕捉下落机制砂颗粒图像, 测量原理如图1所示。颗粒图像通过数字图像处理软件，计算分析捕捉到的每个颗粒的清晰图像,将颗粒图像转变成二值化图像，以获得颗粒投影面积S、投影周长及投影小外接矩形的长b和宽a，计算颗粒的面积等效直径、圆度、长径比等粒度粒形参数，颗粒数字图像二值化处理结果如下图2所示。远心光路系统具有高对比度的轮廓。远心光路降低了物体的漫反射，从而提高了颗粒边缘对比度和测量准确度。
图2 颗粒数字图像二值化处理结果示意图
技术参数：
输出参数：
订货编号：LR-100952