X荧光测厚仪 MaXXi 5/pin

德国宏德金属镀层测厚仪Compact eco

德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的**。备有Compact eco , Compact 5/5PIN , Maxxi4 , MaXXi5/5PIN , MaXXi RoHS等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。

**性能：通过德国PTB**验证，符合德国*高**法规标准。

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

准直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm或50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um或特别订造。Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。

自动测量功能：编程测量，自定测量

修正测量功能：底材修正，已知样品修正

综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析：可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。

镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。

定性定量分析：光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。

统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。

各种型号简介：

1.Compact eco ：小巧独特的设计，为您尽可能节省成本，是进口荧光分析仪*实惠的产品，适合中小工件的测量，功能使用，准确性特高，是五金、首饰、端子等行业的**。

2.Compact 5/5PIN ：轻巧的设计，半开放式测试箱，可容纳大件的PCB产品，功能强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。Compact 5 PIN更配备了半导体电子冷却检测器，令分辨率数倍提高，可测量非常薄的镀层，满足于半导体电子工业的应用。

3.MaXXi4：宽大的测试箱，精简的配置，同样为您尽可能节约成本，却能测量较大的工件。升级能力强大，可配合激光自动对焦，全方位自动样品台等使用。适用于汽车、五金、PCB等行业。

4.MaXXi 5/5PIN ：豪华的设计，宽大的测试箱，集所有优点于一身。MaXXi 5PIN更配备半导体电子冷却检测器，令仪器的综合性能指数变得无出其右。适合各类行业使用。

5.MaXXi RoHS ：除了具备MaXXi 5PIN的所有功能外，并可以做有害物质的RoHS分析。