激光烧蚀固体进样系统 M208975

主要特点
1.可与任何ICP-OES想联机2.无需光学观察和复杂的聚焦3.精密度和正确度与经典的固体进样技术相当4.适用于导电及非导电样品，激光头的稳定性：

主要特点

1.可与任何ICP-OES想联机
2.无需光学观察和复杂的聚焦
3.精密度和正确度与经典的固体进样技术相当
4.适用于导电及非导电样品，激光头的稳定性：<1%，在满功率时
5.设置和操作简单、方便，真正的免维护

仪器介绍

SOLIS500是一简洁的激光烧蚀固体进样系统，适用于各种类型和大小的样品。无需对样品大小有限制及样品的分解，就能进行激光烧蚀取样和大块合金的分析。

SOLIS500型固体进样系统专为ICP-OES直接进样分析大块样品而研制。事实上，任何样品都可以烧蚀进样而无需样品分解。
SOLIS500采用非常稳定的高能量Nd：YAG 1064nm激光器，*大功率50mJ/脉冲。样品放置在客户化设计的样品架上并通过控制键选择烧蚀取样，可以是单点或扫描取样分析。