液晶模组自动测试系统用闪烁量测探头 A712306 说明/参数

• 可与液晶模组自动测试系统整合进行液晶模组自动闪烁调整
• 可整合Chroma 29XX系列液晶模组自动测试系统
• 支援FMA和FLVL闪烁量测模式
• **调整演算法，调整速度快
• 搭配使用LCM Master软体，可自行编辑调整脚本
• 提供防碰撞、防静电及防电磁干扰的保护套，可适用各种恶劣的使用环境

技术规格：

Chroma A712306 LCM 自动测试系统用闪烁量测探头，系专为液晶模组自动闪烁调整应用所设计，依循视频电子标准协会（Video Electronics Standards Association, VESA）所规范的FMA (Flicker Modulation Amplitude)及JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)量测方法进行闪烁程度的量测，搭配使用Chroma 291X系列液晶模组自动测试系统可达到自动闪烁调整的目的。

Chroma 291X系列液晶模组自动测试系统的主要目的为提供待调整液晶模组的电源及讯号，依据不同的介面及尺寸可选购不同的型号及配件，透过291x LCM ATS并可控制 A712306依据VESA所定义的FMA及JEITA 两种量测方法将闪烁值取回，据此进行判定，当闪烁值大于规格值时将透过闪烁调整介面对待测物进行Vcom电压的调整，搭配**的闪烁调整演算法可快速的在数秒内完成 整个调整程序。Chroma 291X系列液晶模组自动测试系统所搭配的自动闪烁调整程式并可针对不同型号的待测物编辑不同的脚本，不需再进行轫体的烧录，可弹性的适用于市面上大部份具备数位Vcom功能的液晶模组，可有效提升生产业者的测试效率，降低测试设备及人工成本。

FMA量测原理 
假如液晶显示器的亮度变化如下图所显示，亮 度的AC成份等于Vmax-Vmin, 亮度DC成份等于 (Vmax+Vmin)/2。根据VESA FMA 计算公式： FMA= AC lux. / DC lux. = (Vmax-Vmin)/{ (Vmax+Vmin)/2} x 100%

FLVL量测原理 
FLVL的量测方法，为将A712306的量测到的资 料，传送到符合人眼感受flicker的滤波器中，再 将资料输出到FFT分析仪，利用FFT分析仪得到不 同频率的能量分布。JEITA标准Flicker计算方式： P0 表示频率0时的功率频谱 Px 表示在不同频率时的功率频谱。 Flicker amount = 10 x log (Px/P0) [dB]

选购附件：

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