贵金属测厚分析仪 LF-09
产品简介
贵金属测厚分析仪
产品详细信息
技术指标:
分析范围:1PPM---99.99%
测量时间:60---300秒
分析精度:0.1%---99.99%
测量范围:Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru、Pt
测镀层厚度、精度:0.03um
重量:30KG
尺寸:350*500*400mm
X射线源:X射线光管。
探测器:正比计数管
仪器配置:
单样品腔
正比计数器
放大电路
高低压电源
X光管
贵金属测厚分析仪
技术指标:
分析范围:1PPM---99.99%
测量时间:60---300秒
分析精度:0.1%---99.99%
测量范围:Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru、Pt
测镀层厚度、精度:0.03um
重量:30KG
尺寸:350*500*400mm
X射线源:X射线光管。
探测器:正比计数管
仪器配置:
单样品腔
正比计数器
放大电路
高低压电源
X光管