掌上型数位IC测试仪器 Lp-1
产品简介
掌上型数位IC测试仪器可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44;掌上型数位IC测试仪器轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电;1. 为测试数字 IC而设计 2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44 3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电 4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
产品详细信息
详情请点击:http://www.17.com.cn/main/listproduct61.html
集成电路测试仪产品简介:掌上型数位IC测试仪器
1. 为测试数字 IC而设计
2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电
4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5. 平均测试时间:0.8秒
1. 为测试数字 IC而设计
2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电
4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5. 平均测试时间:0.8秒
规格集成电路测试仪
1. 显示:16×1字LCD
2. 测试元件接脚数:14到24PIN
集成电路测试仪选择配件: *SOP adaptor
支援元件
·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial
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北京金三航科技发展有限公司
电话:
传真:-804
网址:http://www.17.net.cn
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