CS高低温冲击试验箱

适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。

商品编号: CS高低温冲击试验箱
高低温冲击试验箱
高低温冲击试验箱
满足标准：
1. GJB150.5 **设备环境试验方法：温度冲击实验
用途及特点：
1. 适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。
2. 试验箱下部为低温区，上部为高温区，试件放置在试验箱中部，高温冲击时上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门　　关闭，下风门打开，形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。
3. 试件可静止不动，避免了用户因试件移动带来的诸多不便。
4. 采用进口全封闭风冷压缩机，进口可触式控温仪表。
5. 工作室采用镜面不锈钢板，外壳静电喷涂