X—Ray超高分辨率CCD相机 CCD

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产品型号：CCD

品牌：Photonic science-英国

公司名称：北京迅天宇光电科技有限公司

所在地：北京石景��

发布时间：2018-06-27

浏览次数：1765 次

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产品简介

    我们开始为*终客户和OEM提供X—Ray超高分辨率CCD相机已经有3年的历史。一种高响应度的CCD相机。有着低噪声特性和*佳光子收集与*好的信噪比。尤其在低光条件，曝光模式下允许100%的占空比和高灵敏度的操作。

X—Ray超高分辨率CCD相机

特性：

探测器输出时小像素尺寸<32微米

2x20MHz的复用扫描频率

大面积传感器

极低的暗电流<0.05e/pixel/s

选通时间从几微秒到>30min

空气制冷/水冷选项

同时集成/采集读出能达到100%占空比

应用：

微衍射

X光成像

X光显微CT

劳厄成像

高达50keV的蛋白质晶体

射线散射

粉末衍射

主要参数：

	2200万像素	3200万像素
阵列规格	4008（H）×5344（V）CCD阵列	9744（H）×3248（V）CCD阵列
输入像素尺寸	31.18 x 31.18µm	25.63 ×25.63µm
输入尺寸	124.96 x 166.14mm(tiled array)	250 x 83.07mm(slot array)
fps	1.8FPS全分辨率@20 MHz 5FPS binning4 x 4@1002x1336	1.1FPS全分辨率@2x20MHz 3FPS binning4x4@2436x812
读出噪声	14-18 e@20MHz可插值降噪	12-16 e@2x20 MHz可插值降噪
满阱容量	45000 e@分级 2x2	25000 e@分级 1x1 50000 e@分级 2x2
输出字节	16-bit 动态扩展范围	16-bit 动态扩展范围
输出接口	USB2.0接口	USB2.0接口
同步/控制	TTL脉冲电平或像素时钟
	Csl：实现30-100keV TI结构的闪烁基数器操作
*5-55 keV的操作环境下10线/毫米的小特征识别GdOS:Tb闪烁**	通常为50微米的输入尺寸
暗电流	<0.05e/pixel/s	0.05e/pixel/s