EM电子迁移评估系统 EM　

ETAC　日本原装进口EM电子迁移评估系统，实现了施加大电流，高精度的测量,以对AI及Cu的配线可靠性评价之一的电子迁移现象通过施加高电流、高精度测量进行评价的EM测试器为中心，加热方式可以是烤箱（热风循环方式：V100），和DH型（直接加热方式：V200，V400）之中选择其中一种。

ETAC　日本原装进口EM电子迁移评估系统，实现了施加大电流，高精度的测量
以对AI及Cu的配线可靠性评价之一的电子迁移现象通过施加高电流、高精度测量进行评价的EM测试器为中心，加热方式可以是烤箱（热风循环方式：V100），和DH型（直接加热方式：V200，V400）之中选择其中一种。
主要规格：
温度范围：V100 max 250度   V200  MAX　300度      V400 MAX  400度
应力范围：0.01~500mA
测量范围：0.001~100.00V
TEG形状：Dip600　28pin
TEG数量：V100 :720DEG   V200 : 144TEG      V400 :144TEG