X荧光元素分析仪

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公司名称:日本电子
  地:其它区域日本
发布时间:2007-10-16
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产品简介

 
1.检测元素范围 Na--U。
2.X射线发生装置5-50kV,10mA,50W,靶Rh。
3.分辨率149ev。
4.试样舱300mm直径X150mm高。
5.电脑操作Windows2000,标配软件。 

产品详细信息


JSX-3202EV环境分析用元素分析仪、应对EU(欧盟)电器及电子设备废料回收(WEEE)和特定有害物质的使用限制(RoHS)指令。
采用新式光学系统(正在申请**)、高能X射线发生源、高分解能探测器,可以检测塑料、包装材料、颜料中镉(Cd)、铅(Pb)、水银(Hg)、铬(Cr)等特定有害物质和砷(As)等有毒物质,检测精度达到ppm数量级。
塑料中极微量的镉的分析精度达到5ppm,标准试样的分析精度达到2ppm(日本电子(株)应用研究中心测量值)。搭载环境分析用软件,从检测、分析到判断是否合格只需单键就可实现,操作简单,非常适合检测机关、质保部门使用。

 

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