31-W一米平面光栅摄谱仪 31W

一．用途：

本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物矿井石）的日常定性量分析，纯金属和材料的杂质鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。

二．规格：

工作波段：                          200nm～850nm

摄谱仪焦距：                      F=1050㎜

相对孔径：             A=1：22

狭缝主要技术指标：     宽度范围0.002～0.3㎜          宽度分度值0.001㎜

                       有效高度10㎜                 宽度再现性0.001㎜

波长显示：             计数器(nm)

光栅：                                  1200条/㎜光栅2块

外形尺寸：长×宽×高   1300×1500（包括导轨在内）×600㎜

重量：                 100㎏

工作电源：             380V  50Hz  20A

                       220V  50Hz  20A

E39-L142  E39-L143  HI2550  HI4522C  HI9147  HI83226  E39-L144  HI83203  E39-L148  HI83212  E39-L149  E39-L166  E39-L167  E39-L168  E39-L180  E39-L181  E39-L185  E39-L186  E39-L187  E39-L188  E39-L190  E39-S39  E39-S61  E39-S63  E39-S64  E39-S65A  E39-S65B  E39-S68