Agilent 4294A阻抗分析仪
产品简介
Agilent 4294A阻抗分析仪工作频率40Hz到110MHz,1mHz分辨率;基本阻抗精度:±0.08%;阻抗参数:Z、Y、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q;直流偏置:0到±40V/100mA;测量信号的电平:5mV到1Vrms;200μA到20mArms。咨询电话:18602102632。
产品详细信息
Agilent 4294A 是适用于电子元器件的设计、论证、质量控制和生产测试的强大工具。电路设计和开发工程师也能从它提供的性能和功能中受益。此外,4294A 出色的测量性能和功能为电路设计与开发、材料研究与开发 (电子材料和非电子材料) 环境提供了功能强大的工具。
Agilent 4294A阻抗分析仪特点:
元器件测量
|
无源器件
|
测量两个端口或引线的器件的阻抗,包括电容器、电感器、
铁氧体磁珠、电阻器、变压器、晶体/陶瓷谐振器、
多芯片模块或阵列/网络元器件。 |
半导体元件
|
变容二极管的 C-V 特性分析
对二极管、晶体管或 IC 封装端子/引线的寄生参数进行分析。
放大器输入/输出阻抗测量。
|
|
其他元器件
|
测量印刷电路板、继电器、开关、电缆和电池等元件的阻抗。
|
|
材料的测量
|
电介质材料
|
测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。
|
磁性材料
|
测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。
半导体材料半导体材料的电容率、导电性和 C-V 特性。
|
Agilent 4294A阻抗分析仪技术参数:
工作频率
|
40 Hz 到110 MHz, 1 mHz 分辨率
|
基本阻抗精度
|
± 0.08%
|
Q 精度
|
Q = 100、测量频率小于10 MHz 时, ± 3% ( 典型值)
|
阻抗范围
|
3 mΩ 到500 MΩ*1
|
测量时间
|
测量频率大于500 kHz 、分辨率带宽= 1 ( 快速测量模式) 时, 3 ms /点
|
每次扫描点数
|
2 到801 个点
|
测量类型
|
四端子对测量(标准) 7 毫米毫米单端口测量(使用42942A),
可测量接地器件使用高阻探头测量(使用42941A), 可测量接地器件
|
阻抗参数
|
IZI、IYI、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q
|
直流偏置
|
0 到± 40 V/100 mA, 1 mV/40 μA 分辨率恒定电压/
恒定电流模式, 直流偏置V/I 监测功能 |
测量信号的电平
|
5 mV 到1 V rms; 200 μA 到20 mA rms 测量信号电平V/I 监测功能
|
扫描参数
|
频率、测量信号的电平(V/I)、直流偏置(V/I)
|
扫描类型
|
线性、对数、列表: 手动扫描模式: 向上/向下扫描
|
其他功能
|
等效电路分析功能,限制线功能迹线累加模式
|
游标
|
8 个游标(1 个主游标和7 个子游标) 差值游标功能,游标搜索功能
(*大、*小、峰值、下一峰值等) 游标分析功能
|
本页面标题:Agilent阻抗分析仪 4294A