JSX-3100RII能量色散形X射线荧光光谱仪，光谱仪 JSX-3100RII

JSX-3100RII能量色散形X射线荧光光谱仪，光谱仪
用于RoHS符合性筛选
高分辨率、免液氮型硅（锂）
半导体检测器
用于金属、岩石、土壤、
食品及镀层厚度的常规X射线荧光分析
快速高灵敏度分析
 优越的性能、一整套软件包

    JSX-3100RII规格

分析元素 钠至铀
X射线源 Rh靶，5-50kV，1mA，50W
过滤器 4种类型（包括开放式）自动变换
准直仪 直径1 mm、3 mm及 7 mm
检测器 免液氮型硅（锂）半导体检测器
样品室尺寸 300mm（直径）x 150 mm（高）
数据处理机 Windows® XP，液晶显示器，彩色打印机
RoHS分析 塑料中的5 种元素， 5种金属元素，锡镀层（备选）及镍镀层（备选）
一般分析 FP法，薄膜FP法，校准曲线
备选 CCD摄像头，16样品交换器，真空系统
主机尺寸/重量 650（宽）x 810（深）x 460（高）；约90 kg
JSX-3100RII安装要求 电源 单相AC100 V +/-10%，50/60 Hz，15 A，D类接地
工作环境 室温：18-28°；湿度： 40-70% （无冷凝） 无腐蚀性气体、粉尘及有感的振动
液氮 不需要
主机尺寸（mm） 650（宽） x 810（深）x 540（高）
重量 100 kg

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