NEC日前开发成功了能够在芯片上检测芯片（裸芯片）内部电源线和信号线等线路状态的电路。并在2004年6月17日开幕的半导体制造技术国际会议“2004  Symposium  on  VLSI  Circuits”上公布了技术详情。  
　　据称，该电路能够测定因芯片封装等感应成分引起的电源线波动及表现在其结果信号波形中的过冲（Overshoot）和下冲（Undershoot）等。不需外置测定器。“准确地对芯片内部的感应成分进行建模，非常困难。因此对能够实际测定电源线与信号线波形的电路需求非常大。我们此次确立了能够测试以GHz级运行的高速信号波形的技术”（NEC）。  
　　据称，NEC已将这种检测电路集成到从某客户那里订购的ASIC中。目前该芯片的设计已经完成，很快就将作为成品开始供货。  
　　此次开发的片上波形检测电路的特点在于，输出波形为数字信号。过去提出的片上波形检测电路均以模拟信号的方式输出波形。“检测电路的输出波形如果是模拟信号，就会直接受到外部数字电路所产生的噪音影响，因此很难对波形进行准确测定”（NEC）。  
　    NEC此次通过向布线长为2mm的传输线路输入工作频率为2.2GHz的波形，测定了因芯片上感应成分而产生了多大程度的过冲和下冲。实际使用的检测电路是利用90nm工艺CMOS技术制造的，在+1V电压下工作。电路规模不大，约为300个晶体管，电路面积为350μm×140μm。