5月19日，美国热电集团向外界宣布，该公司全新一款X射线探测器问世。该产品可配置在热电集团的MicroXRT系列微束X荧光分析系统上，对于半导体及微电子行业的薄膜分析，该探测器有着其他产品无可比拟的性能优势。

        微束X射线荧光分析系统采用了能量色散X荧光光谱和聚焦光路技术，是一种对于金属薄膜进行分析的理想工具。而热电集团此次发布的全新固态X射线探测器将极大地扩展系统的使用灵活性，该技术将不再需要液氮冷却，维护更方便，可快速启停。

        对于薄膜分析领域，热电的固态Si(Li) 探测器具有非常高的分辨率和灵敏度。同时，由于Si(Li)探测器的能量范围上限可达29 keV，因而可以对更重的元素进行检测。而10mm的有效检测器区域，使得Si(Li)探测器具有更窄的几何角度以及大取样角，从而大大改善了对于痕量元素的检出限。

        作为一项相对而言较新的技术，热电集团的固态硅漂移探测器对于那些要求有高计数率或是高通量的应用领域尤为理想。它可以提供更短的分析时间，更出色的**度，并且计数率统计速度较之以往提高了十倍。

        在一些对于分辨率和灵敏度有着苛刻要求的分析领域，热电集团还可以提供一项该公司的**技术——真空导管技术（Vacuum ConduitT），作为微束X射线荧光分析系统的选件。这项技术将使X射线束产生与检测通道处于真空状态而无需再对样品室抽真空，样品可直接暴露在大气环境下。