X射线荧光光谱仪XD-8010  XD-8010
X射线荧光光谱仪XD-8010

X射线荧光光谱仪XD-8010 采用三重射线防护系统(软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计),彻底杜绝各种工作情况下的辐泄露。

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菲希尔X射线测厚仪 X-RAY XUL
菲希尔X射线测厚 X-RAY XUL

X-RAY XUL 菲希尔X射线测厚FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚又名菲,希尔膜厚|X射线膜厚|荧光膜厚X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

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能量色散型微区X射线荧光光谱仪 μEDX-1200/μEDX-1300/μEDX-1400
能量色散型微区X射线荧光光谱仪

能量色散型微区X射线荧光光谱仪配备新开发的X射线集束毛细管透镜,实现了*小分析直径达50μm的微区测定,适合半导体/电子部件/食品领域等高灵敏度、高分辨率分析。

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X射线测厚仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X射线测厚 FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210

FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210 X射线测厚|X-RAY镀层分析|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE, X-RAY XDL-B 型器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

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波长色散光谱仪WDX200
波长色散光谱仪WDX200

波长色散光谱仪WDX200 小型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U 的任意十种元素。该器可广泛应用于水泥、钢铁、粉末冶金、煤炭、石油、高岭土、玻璃、耐火材料、环保等行业,是大中型企业质量控制的理想选择。

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手持式合金分析仪 S1 TURBO SD LE
手持式合金分析

S1 TURBOSDLE合金分析是****台配置了硅漂移探测器(SDD)的手持X射线荧光光谱仪,检测器能量分辨率高达140eV,大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下,无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si,镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。

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MDX1000(x射线光谱仪) MDX1000
MDX1000(x射线光谱仪)

牛津MDX1000(x射线光谱仪)把波长色散技术、能量色散技术和现代元素检测技术有机的溶合为一体,它是一种低价位、高性能的小型化元素检测系统,无论是检测轻元素,还是检测重元素都能得到令人满意的分析结果。

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 偏振能量色散X射线荧光光谱仪-SPECTRO iQ II  SPECTRO iQ II
偏振能量色散X射线荧光光谱仪-SPECTRO iQ II

偏振能量色散X射线荧光光谱仪-SPECTRO iQ II 以往只能用波长色散型X荧光光谱仪完成的分析任务,现在通过SPECTRO 独特的偏振能量色散型器即可出色地完成。

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Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL

Ficherscoper X-RAY XDL Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪,XDAL型器的典型应用包括硬质镀层分析,如钻头和切割设备、合金材料分析以及电子和半导体工业中的超薄镀层测量。此外,使用XDAL型器,

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线阵光电探测器 Linear Detector
线阵光电探测器

提供不同波长范围的线阵光电探测器,涵盖X射线、紫外、可见、近红外、红外波段;产品应用于无损检测、医疗设备、分析器、水平、色选机、光谱仪等各个领域

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手持式XRF荧光光谱仪 X-MET8000S
手持式XRF荧光光谱仪 X-MET8000S

X-MET8000S 了牛津器工业分析部门,牛津手持光谱仪品牌正式更名为日立器HITACHI。手持式XRF荧光光谱仪X-MET8000S型是一款为客户量身定做的X射线的荧光光谱仪。它集速度,准确,坚固和易用为一体,加上硬件,软件的多年行业经验,满足你对检测的所有要求。,手持式XRF荧光光谱仪/手持式合金成分分析/元素含量检测X-MET8000S由Oxford Instruments下属的工业产品分公司研究、设计和制造,世界500强日立公司于2017年7月收购

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ElvaX台式X射线荧光光谱仪
ElvaX台式X射线荧光光谱仪

ElvaX台式X射线荧光光谱仪

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能量色散X荧光光谱仪EDX-Pocket-I
能量色散X荧光光谱仪EDX-Pocket-I

能量色散X荧光光谱仪EDX-Pocket-I 检测对象:各种材料中的(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)激发源:40KV-银靶微型X光管X射线光束直径:6 mm检测时间:一般检测时间为10-200秒检测范围:钾到铀之间所有元素,包括RoHS 指令(Cr Br Pb Hg Cd)

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X荧光能谱仪Rohs检测仪 镀层测厚仪膜测厚仪 X荧光能谱仪
X荧光能Rohs检测 镀层测厚膜测厚 X荧光能

X荧光能 X荧光能Rohs检测 镀层测厚膜测厚美国赛黙飞世尔ThermoFisher(美国热电)能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)

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