上海麦聚瑞电子仪器有限公司大量批发RTS-8型数字式四探针测试仪,它是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,RTS-8,型数字式四探针测试仪专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。RTS-8型数字式四探针测试仪适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
ST-21方阻仪,ST-21四探针测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;ST-21方阻仪,ST-21四探针测试仪带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
RTS-9双电测四探针测试仪(适用晶片尺寸:2'~12'选配探针台;电阻率:10-4~105 Ω.cm(可扩展);方块电阻:10-3~106Ω.cm (可扩展);可测晶片厚度:≤3.00mm)。咨询电话:18602102632.
RTS-8型数字式四探针测试仪 参数价格,是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器;仪器量贩现货大量供应,价格公道,欢迎选购021-53084218。
SZ82数字式四探针测试仪(片状薄层微小电阻测试仪)是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。SZ82数字式四探针测试仪广泛用于半导体厂家、太阳能行业,SZ82数字式四探针测试仪还能满足科研单位,的精密研究。片状薄层微小电阻测试仪/SZ82.SZ82/片状薄层微小电阻测试仪.SZ82片状薄层微小电阻测试仪.SZ82片状薄层微小电阻测试仪.SZ82片状薄层微小电阻测试仪.SZ82片状薄层微小电阻测试仪.SZ82数字式四探针测试仪.四探针测试仪
TH2661型手持式四探针测试仪测试参数:电压, 电阻率, 方阻, 电阻测量不确定度:≤5%恒流源:100nA, 1uA, 10uA, 100uA, 1mA, 3.3mA电流方向:正向 反向 正反,向数学功能:***偏差, 百分比偏差量程方式:自动, 保持触发方式:连续、数据锁定测试速度:约 3 次/秒校准功能:短路清零测试端配置:四端测量显示方式:直读,Δ%,ΔABS显示器:五位LCD显示测量
同惠TH2661手持式四探针测试仪可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试,数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式,既能适应固定场合对元器件进行检测,又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。
TH2661四探针测试仪,TH2661型四探针测试仪性能特点 大屏幕液晶显示,可手动或自动选择合适的电流源量程,预设样片厚度,自动修正,直读电阻率
RTS-4型数字式四探针测试仪,RTS-4型数字式四探针测试仪由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
SRC-3001A在线测试仪在SRC3001的基础上,使用了WIN95/98界面,全中文简体更加人性化操作。独有的完全四针测试技术,采用电桥测试法可消除探针与电路板间的SRC3001A印制电路板在线测试仪是为高节拍印制电路板装配生产线而设计的。
数字式四探针测试仪,半导体材料的电阻率测试仪简介: ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻,(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。TH2661型四探针测试仪,TH2661型四探针测试仪
SDY-5四探针测试仪采用了四探针双位组合测量技术,利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,从而提高了测量结果的准确度;欢迎选购SDY-5四探针测试仪。
SHSZ82四探针测试仪测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,扩散层薄层电阻。SHSZ82四探针测试仪换上特制的四探针测试夹具,还可对金属导体的低、中值电阻进行测量.片状薄层微电阻测试仪,.数字式四探针测试仪.数字式四探针测试仪.片状薄层微电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪
UKSY-5功能薄膜特性测试仪 型号:UKSY-5四探针测试仪和非晶硅薄膜电导率测量仪组成。四探针测试仪由主机、测试架等部分组成,测试结果由数字表头直接显示。主机主要由高灵敏度直