抗干扰介损测试仪是一种测量介质损耗角正切(tgδ)和电容值(cx)的自动化仪表。可以在工频高电压下， 现场测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切(tg,δ)和电容值(Cx)。与西林电容电桥相比，具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、精度高、抗干扰能力强等优点。介质损耗测试仪厂家价格

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霍尔效应测试系统由永磁磁铁或电磁铁、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、标准样品、样品操作板、系统软件组成。霍尔效应测试系统用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数,，这些参数是了解半导体材料电学特性必须的，因此霍尔效应测试系统是研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算，可同时得到体载流子浓度、表载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等。

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PY3001全自动抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,（tgδ）和电容容量（Cx）。全自动抗干扰介质损耗测试仪淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

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