CPJ-3000数显投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件完全同向，正立直观。它广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业；院校、研究所以及计量检定部门。仪器特点：仪器光学系统品质,优良，物镜成像清晰，放大倍率准确。在透射光照明下，轮廓测量误差小于0.08%；坐标测量示值误差可达(3+L/75)μm，L为被测长度(单位：mm)；

数字卡规，数字卡规型号：st101，数显外卡规st101口袋型携带轻便，易于使用和携带方便．功能：卡规是长度计量仪器，主要用于检测高精度轴类零件的径向尺寸精度，也可测量轴的椭圆度和圆柱度．

立式接触式干涉仪是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规，亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量，是各级计量室的基本长度计量仪器之一。

JDY-2测长仪本仪器主要用于各种圆柱形，球形，平行平面等精密零件的外形，内孔尺寸的直接测量和比较测量，亦可进行内外螺纹中径等特殊测量，是各级计量室中必备的基本长度计量仪器之一。

量块 46块组是由两个相互平行的测量面之间的距离来确定其工作长度的高精度量具，其长度为计量器具的长度标准，通过对计量仪器、量具和量规等示值误差的检定等方式，使机械加工中各种制成品的尺寸能够溯源到长度基准

测长仪JD36-H是一种用于**测量和相对测量的长度计量仪器，因其**地应用了阿贝比较原理和采用了高精密进口光栅测量系统，因而具有较高的测量精度和可靠性。该仪器主要应用于金属加工工业，特别是在机器制造、工具及量具制造和仪器制造等企业计量室和各级专业计量部门。

JD18投影万能测长仪是一种精密机械、光学系统和电气部分相结合起来的长度计量仪器。本仪器除可用于对零件外形尺寸进行直接测量和比较测量之外，还可以使用仪器所附有的专用设备进行各种特殊测量工作。外尺寸,：平行平面被测件的测量，如量块。球形平面被测件的测量，如钢球。柱形平面被测件的测量，如圆柱体直径。JD18投影万能测长仪

测量显微镜15J是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用于直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。测量显微镜

6-W阿贝比长仪 阿贝比长仪是基于阿贝原理而设计的高精度长度计量仪器。本仪器主要用于测量二线之间的距离及平面上两点之间的距离：如对200mm以下短标尺的检定；对光谱图形及光学仪器中的分划板的精密测量等等。并可作为摄谱仪的成套附件。

JD3投影立式光学计是精密光学机械长度计量仪器。它是利用标准量块与被测件相比较的方法来测量零件外形的微差尺寸，是工厂计量室、车间检定站或制造量具、工具与精密零件车间常用的精密仪器之一。

JD9A/JD21/JD10A型投影二米、三米测长机是一种大型精密长度测量的计量仪器。它能**地测量一些超长工件的内外尺寸，用比较法检定尺寸大于100㎜的四、五等量块和直接测量外径千分尺的校对量棒,、内径千分尺和自制量棒。测量各种卡板的内尺寸、内径直径和外螺纹中径等。本产品广泛用于包括航天业、铁路机车制造业在内的各大机械制造行业、科研院所、计量检定所等部门

接触式干涉仪 接触式干涉检测仪 长度计量仪 型号:BXS07-JDS-1 一、仪器用途本仪器是是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规，亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量，是各级计量室的基本长度计量仪器之一。

JDY-2万能测长仪是光机电结合的长度计量仪器，可用于各种圆柱形、球形、平行平面等精密器具和零件的外形和内孔尺寸的直接测量和比较测量（如量块、量棒、塞规、样圈、钢球等）及内外螺纹的中径等测量，还可,以使用仪器的附件进行各种特殊测定工作，具有一定的万能性。万能测长仪是计量室基本长度计量仪器，也是高等教学的典型教学设备。

107JA精密测量显微镜是一种小型二维数显测量的计量仪器，仪器主要采用透、反射照明方式，通过观察和数显系统对精密件的几何量（长度、角度）进行观察、分析、测量。特别适用于大规模集成电路线宽、小型零件,（如钟表零件及其他精密件几何参数的测量）。仪器可以连接CCD进行影像测量。仪器体积小、重量轻、可广泛应用于计量室、生产作业线以及科学研究部门。

主要用途： 数据处理万能测长仪是由光学系统,精密机械及电器部分相结合的一种长度计量仪器，除可用于对零件的内外尺寸进行**测量和比较外，还可以使用仪器所附的专用附件组合进行各种特殊测量，该类仪器主要应用于机械制造业，工具、量具制造及精密仪器制造等各级计量鉴定部门和企业计量室。