晶片频率分选仪 GY-3010A
产品简介
1 概述 GY3010/3010A晶片频率分选仪是用于测量1-60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（GY3010型须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。 1．1 使用环境： a. 环境温度：0-40℃； b. 相对湿度：（20-90）%； c. 大气压强：86-106 kPa。 1．2 **组别：属GB4793《电子测量仪器**要求》中Ⅱ类**仪器。 1．3 使用电源：220V±10%，50Hz。 1．4 消耗功率：小于8 VA。 1．5 外形尺寸：270mm（宽）×130mm（高）×310mm（深）。 1．6 重量：约5 kg。
产品详细信息
1 概述
GY3010/3010A晶片频率分选仪是用于测量1-60MHZ频率范围内石英晶体白片的谐振频率，频率由频率计直接显示（GY3010型须外接频率计），测试方便、准确。适用于石英晶体厂家生产线上测试白片。
1．1 使用环境：
a. 环境温度：0-40℃；
b. 相对湿度：（20-90）%；
c. 大气压强：86-106 kPa。
1．2 **组别：属GB4793《电子测量仪器**要求》中Ⅱ类**仪器。
1．3 使用电源：220V±10%，50Hz。
1．4 消耗功率：小于8 VA。
1．5 外形尺寸：270mm（宽）×130mm（高）×310mm（深）。
1．6 重量：约5
kg
。
2 技术参数
2．1频率范围：1-60 MHz。
2．2频段划分：1-2.2 MHz
2.2-5 MHz
5-10 MHz
10-20 MHz
20-40 MHz
40-60 MHz
2．3频率计测量准确度：±5×10-6 。
2．4时基稳定度：3×10–6／日 [可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10–8／日]。
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