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上海上光新光学科技有限公司
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公司简介
注册时间:
2015-03-03
联系人:
叶爱萍
电话:
18917110077
Email:
18917110077@qq.com
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产品简单介绍
光切法显微镜
9J
在不破坏表面的状况下来进行测量物体表面的微观不平度,对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。表面光洁度▽3~▽9(表面粗糙度12.5 ~0.2 ) 1.不平宽度测量范围:0.8-80μm 2.测量范围:0.7μm-2.5mm用测微目镜 3.测量范围:0.01-13mm用坐标工作台 可选高清数码摄影与图像处理测量装置
偏光显微镜
XPT-127
偏光显微镜是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜,在地质学等理工科专业中有重要应用。凡具有双折射的物质,在偏光显微镜下就能分辨的清楚,当然这些物质也可用染色法来进行观察,但有些则不可能,而必须利用偏光显微镜。反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户做单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。