高度计是用来测量物体水平高度，即海拔的工具。高度的测量被称为测高，与测深，即测量水下深度类似。有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行准确的测量。
高度计的结构原理：
仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。 多型号高度计高度计采用精度光栅作为测量基准，选用玻璃基体的增量式光栅尺，所以测量支持大测量范围，对震动和冲击不敏感，并具有确定的温度特性。增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的较小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。
高度计一般采用两种方式来测量距离：脉冲法和相位法。脉冲法测距的过程是这样的，测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收，测距仪同时记录激光往返的时间。光速和往返时间的乘积的一半，就是测距仪和被测量物体之间的距离。脉冲法测量距离的精度是一般是在正负一米，另外，此类测距仪的测量盲区一般是5米左右。超声波测高仪发射特点频率波形的超声波脉冲，再接受经发射回来的超声波，根据时间差和超声波传播速度来计算高度。
