- 如果您对该产品感兴趣的话，可以
- 产品名称：Honeywell霍尼韦尔温度传感器C7080A3240
- 产品型号：C7027A1072
- 产品展商：美国霍尼韦尔
- 产品文档：无相关文档
- 发布时间：2025-05-12
- 在线询价
简单介绍
常用的非接触式测温仪表基于黑体辐射的基本定律，称为辐射测温仪表。辐射测温法包括亮度法
产品描述
Honeywell霍尼韦尔温度传感器C7080A3240
常用的非接触式测温仪表基于黑体辐射的基本定律，称为辐射测温仪表。辐射测温法包括亮度法（见光学*温计）、辐射法（见辐射*温计）和比色法（见比色温度计）。各类辐射测温方法只能测出对应的光度温度、辐射温度或比色温度。只有对黑体（吸收全部辐射并不反射光的物体）所测温度才是真实温度。如欲测定物体的真实温度，则必须进行材料表面发射率的修正。而材料表面发射率不取决于温度和波长，而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关，因此很难确测量。在自动化**中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度，如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下，物体表面发射率的测量是相当困难的。对于固体表面温度自动测量和控制，可以采用附加的反射镜使与被测表面一起组成黑体空腔。附加辐射的影响能提*被测表面的有效辐射和有效发射系数。利用有效发射系数通过仪表对实测温度进行相应的修正，终可得到被测表面的真实温度。为典型的附加反射镜是半球反射镜。球中心附近被测表面的漫射辐射能受半球镜反射回到表面而形成附加辐射，从而提*有效发射系数式中ε为材料表面发射率，ρ为反射镜的反射率。至于气体和液体介质真实温度的辐射测量，则可以用插入耐热材料管至一定深度以形成黑体空腔的方法。通过计算求出与介质达到热平衡后的圆筒空腔的有效发射系数。在自动测量和控制中就可以用此值对所测腔底温度（即介质温度）进行修正而得到介质的真实温度。
SZL-WLB-A-E-M
SZL-WLC-B
SZL-WL-E
SZR-LY2-N1
SZR-LY4-N1
TFI812.2
V4046C1047
V7-1X1AD9C1
V7-2B17D8
VPX1C2ABGR1A4F
VPX1C2ABGR1A4F的支架
VPX1C2CBGR1A4F
控制器 51199942-300
微动开关 BE-2RW84-A2
微动开关 BZ-2RW84-A2
温控表 DC1040CR-30100B-E
HD1K-015GM010
RRI-010PI/A7PSP.2E
UM3K-025GM180
UR1-032HM 230VAC 1A/50VA
UR3K-020GM085-SR
WR-008GM
PE炉管SIH4流量计 SEC-Z514MGX MFG N0:34 5226 7285
