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- 产品名称：高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
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简单介绍
高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
产品描述
高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber简介：本试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。
高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技术参数
型号
|
|
TS 60
|
TS 120
|
TS 120 P
|
TS 300
|
TS 300 P
|
测试空间容积
|
l
|
60
|
120
|
120
|
300
|
300
|
移动提篮最大负载
|
kg
|
20
|
50
|
50
|
100
|
100
|
|
试验空间尺寸：
高（H）x宽（W）x深（D） m
|
mm
|
370x380x430
|
410x470x650
|
410x470x650
|
610x770x650
|
610x770x650
|
热箱温度范围
|
°C
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
冷箱温度范围
|
°C
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
热箱升温速率①
|
K/min
|
17.0
|
14.0
|
18.0
|
11.0
|
23.0
|
冷箱降温速率①
|
K/min
|
3.7
|
6.3
|
7.5
|
5.0
|
12.0
|
冷箱升温速率,单箱操作①
|
K/min
|
3.2
|
2.0
|
2.0
|
1.5
|
1.5
|
温度波动度②
|
K
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
温度均匀性③
|
K
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
热/冷箱转换时间
|
sec
|
<10
|
<10
|
<10
|
<10
|
<10
|
恢复时间–温度变化测试
|
min
|
<15④
|
<15⑤
|
<12⑥
|
<15⑦
|
<15⑧
|
热箱校准值⑨
|
°C
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
冷箱校准值⑨
|
°C
|
–40
|
–40
|
–40
|
–40
|
–40
|
①
根据IEC 60068-3-5。通过选择提升/降低热箱/冷箱温度来提高温度变化速率。
②有效测试空间中心点。
③基于设置点；温度范围 –65 °C to +200 °C。
④MIL-STD-883 E，方法 1010.9，强度级 D ，4.5 kg ICs 分布于2个样品架内，样品内测量。
⑤MIL-STD-883 J，方法 1010.9，强度级 D，12 kg ICs 分布于3个样品架内，样品内测量。
⑥MIL-STD-883 F，方法 1010.9，强度级 D，20 kg ICs 分布于3个样品架内，样品内测量。
⑦
MIL-STD-883 J，方法 1010.9，强度级 F，25 kg ICs 分布于3个样品架内，样品内测量。
⑧
MIL-STD-883 F，方法 1010.9，强度级 F，50 kg ICs 分布于3个样品架内，样品内测量。
⑨出厂计量。
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