波长色散X射线荧光光谱仪
一、波长色散X射线荧光光谱仪简介
波长色散X射线荧光光谱仪S8 TIGER 4K有着高精密度和高准确度的完全元素分析技术，和化学价态无关，直接的、非破坏性地分析固体、松散粉末和液体样品，制样容易，只需几分钟，操作方法**，无需有害化学试剂。波长色散X射线荧光光谱仪其分析性能很好，激发电流170mA，激发电压60kV，可以4KW满功率运行，轻元素分析性能也很好，光路灵活，无需压缩空气，机柜防尘涉及，占地面积小。
二、波长色散X射线荧光光谱仪特点
1、高透光性的真空封挡
在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。
2、高精度光学定位测角仪
采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,*大扫描速度1200°/分钟，*大转角速度4800°/分钟。
3、特有的变动理论α系数法
采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行**的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其*显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。
4、特有的未知烧失量校正
对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。
5、角度偏移校正
校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。
6、几何校正
通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。
7、制样校正软件
对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。
8、P10气体密度稳定器
在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。
9、高稳定性的光谱室
光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。
10、采用真空度控制测量
对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。