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- 产品名称：三维表面测量系统
- 产品型号：NPFLEX
- 产品展商：布鲁克
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简单介绍
布鲁克的 3D 表面测量系统NPFLEX为精密制造业带来****的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，三维表面测量系统NPFLEX这套非接触系统提供的技术性能超过了传统的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了 解部件的性能和功能。
产品描述
三维表面测量系统NPFLEX
针对大样品设计的非接触测试分析系统
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灵活测量大尺寸、特殊角度的样品
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高效的三维表面信息测量
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垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
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快速获取测量数据，测试过程迅速高效
NPFLEX
为大尺寸工作精密加工提供准确测量
布鲁克的3D 表面测量系统NPFLEXTM 为精密制造业带来****的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超过了传统的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，三维表面测量系统NPFLEXTM 是**个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获取从微观到宏观等不同方面的样品信息。
其灵活性表现在可用于测量征更大的面型和难角度样品
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**性的空间设计使得可测零件(样品)更大、形状
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开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头轻松测量想测部位
高效的三维表面信息测量
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每次测量均可获得完整表面信息，并可用于多种分析目的
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更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
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干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
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工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障
测量数据的快速获取保证了测试准备时间
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*少的样品准备时间和测量准备时间
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比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据
测量不同尺寸、规格的样品，操作灵活，**高效
通常情况下，测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时，往往花费较长的时间对样品进行切割处理，才可进行测量。如今，开发出新型的三维表面测量系统NPFLEX测量系统，拥有超大测量空间，*高可测13英寸，这种**性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放是龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位。开放式结构与Bruker的**头部调节tip/tilt测量头，包含理想的数值孔径及实现了更长的工作距离下测量。这使得三维表面测量系统NPFLEX善于测量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的样品。
**品质，坚固耐用
整体设计坚固耐用，大理石机台可以承受*重高达170磅的重量。开放式龙门设计可以灵活性测量表征更大的面型和更难测的角度。客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松的转换测量方向，表征样品的不同位置。在实验过程中，使用NPFLEX，对于样品大小，取样过程以及实验环境的要求，都相对宽松很多，使得实验可以灵活简便的完成，帮助生产者获得产品性质的精密精密数据。
为客户量身定做*合适的仪器配置
在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方案，满足不同客户的测量需求：
♦可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位，测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。
♦获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media，TTM)模块,，结合环境测试腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可对样品进行加热或者冷却，进行原位测量。
♦可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。
纳米级分辨率的三维表面信息测量
大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些品性质，需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品，往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征，获得的只是一条线测量数据。
二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更**的纹理细节信息。
测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。
纳米级分辨率的三维表面信息测量
大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些品性质，需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品，往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征，获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更**的纹理细节信息。
测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。
快速获取数据，保证测试迅速高效
能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需**掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间
，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。
自动对焦，光强调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做*优化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用三维表面测量系统NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。
NPFlex 三维测量体系——全新表征技术，概念终成现实
生产工艺技术的挑战日益严峻，越来越多的公司将产品的表面性质作为衡量其质量好坏的重要标准。部件的表面性质往往决定了其工作性能，使用寿命以及失效报废的各种情况。三维表面测量系统NPFLEX的问世，使得广大用户仅依靠一套测量体系，就可以解决部件整个使用周期，从部件设计之初到使用过程中的故障排除等步骤的全部表面性质检测。
广泛应用于研发领域
在研发实验室，要求仪器的测量操作过程和数据分析过程都要灵活高效**。基于白光干涉原理，设计出来的这台NPFLEX非接触三维光学轮廓仪，就可以在这种要求下完成对样品不同尺寸和形状表面进行表征，其测试性能远远优于探针式或者其他类型的轮廓仪。
医用植体研究
骨科植入手术中，其植入物必须符合严格的医学审核要求，确保其生物相容性和耐腐蚀/耐磨损性能 。通过人工髋关节的白光干涉分析，生产商能够判断植入物的表面性质，保证其边缘具有足够的粗糙度，可以与周围组织紧密结合（～2μm的粗糙度），而表面又具有足够的光滑性（～200纳米）。通过这一类的表面性质分析，可以帮助生产商改进产品，增加其在使用过程中的舒适性和**性。
生产过程和产品质量监控
机密加工行业需要高效**的测量仪器，检测所生产的部件质量和性能是合乎出场要求的。与同类检测手段相比较，三维表面测量系统NPFLEX可以提供更高效**的产品表面性质测量，严格控制产品指标。
航空航天材料的质量监控
航空航天工业中，飞机表面的起伏、裂纹、凹痕以及毛刺都会严重影响飞机的飞行性能。三维表面测量系统NPFLEX采用开放式取放样品，大视场扫描以及表面纹理微观性质的强大分析功能，帮助检验飞机部件的质量和功能，提高生产效率，严格监控产品质量，降低生产成本。
失效分析
生产过程中，部件的失效分析是提高生产质量的重要指标。NPFlex**的测量性能，加之纳米级的超高分辨率，帮助操作人员高效灵活地完成样品表面非接触式三维形貌测量，样品**无损，多重数据分析，获得**准确的样品信息。结合具体的测量参数，分析样品形貌图像，就可以迅速获得零件的全部失效分析报告。
传感器磨损测量
白光干涉仪在职车制造业质量监控，尤其是获得传感器磨损等方面的监测数据方面，是一项很有利的检测手段。通过比较研发时的样本磨损值和实际使用过程中的磨损情况，就可以帮助工程师了解部件可能出现故障的情形和原因，对部件进行新的设计和改进，提高使用效率，降低投入成本。
性能**的测量体系，独特的开放式大样品台，灵活高效地获取**数据
采用非接触式测量技术，具有独特的开放式大样品台和直观迅速的分析软件来表征样品的表面纹理，光洁度，粗糙度，弯曲度，坡度，和许多其他特征，测量数据精度高达埃级。该系统提供了***的计量平台，可用于大型精密加工部件的表面特性表征。
技术规格
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测量性能
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非接触测量，三维立体成像，表面粗糙度，样品关键尺寸，薄膜厚度，摩檫学
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物镜
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具有超长工作距离的物镜：2X，5X,10X，具有防撞保护配件；
具有标准工作距离的物镜：1.5X, 2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X, 100X；
可选透射物镜工具包；
可选四位置自动塔台
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目镜
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多种目镜可选：0.55X, 0.75X, 1X, 1.5X, 2X
自动马达驱动选择
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测量阵列
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*大阵列640×480，高速，逐行扫描
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光源
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长寿命绿光和白光发光二极管
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可测样品尺寸
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H=350mm (249mm,自动样品台；D=304mm;W=304mm
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样品台承重能力
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样品台承重能力高达50kg(110磅）
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充气载物台承重能力
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充气载物台承重能力高达77kg(170磅）
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光学系统
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集成化电脑控制照明灯；
高精度闭环垂直扫描器；
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电脑操作系统
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Latest Dell® PC w/flat panel monitor, mounted on Ergotron® mobile workstation; Production mode, built-in databasing with pass/fail for any parameter;
Optional HDVSI, MATLAB®/TCPIP, Film Analysis, Optical Analysis and SureVision
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垂直分辨率
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〈0.15nm
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RMS 重复性
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0.03nm
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台阶高度
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**度0.5﹪；
〈0.12﹪1σ
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横向测量范围
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0.1-13.2μm
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光学分辨率
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0.49μm.
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视场范围
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7.68×5.76mmmax,0.06×0.05mmmin.
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占地面积
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172cmHx77cmDx81cmW(67.6in.Hx30.4in.Dx32in.W)
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符合标准
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CE,NRTL,T-Mark,ROHScompliant,ANSIB46.1compliant
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