误码率测试解决方案

针对计算机互连和数字传输测试的解决方案
Example Communication Link Block Diagram

　　为特定应用领域优化的解决方案??无需采用通用仪器
　　可扩展平台帮助降低每次测试的费用，并保证您的选择对未来开放
　　可用所有方法测试至OC-768的器件

　　新的协议的不断推出，速度的急剧增加，收缩的误差域度继续向数字传输测试工程师施加重压。此外，对光电发送器和接收器、高速数字元件、复用器和分离用器的评测、验证和测试任务也已超出通用仪器的能力。
　　由于有了Agilent误码率（BER）测试全方位解决方案，您可选择针对特定元件类型和数据率的解决方案。这些测试平台按您今天的特殊需要配置，并能适应未来技术进步的要求。
　　用下表找出*适合您测试需要的解决方案。后面将介绍这6种产品，第30页和第31页对新的ParBERT81250和86130BitAlyzer做了更为详细的说明。请点击此表

针对您特殊需要的误码率测试解决方案

　　ParBERT 81250。新的Agilent ParBERT81250是模块化的并行误码率测试解决方案，它能以高达2.67Gb/s的速率同时在64条线上测试。ParBERT81250不仅能作误码率测量，还能**评测您的器件,所提供的测试特性包括传播延迟及建立和保持时间。详细情况请参看第30页。
　　86130A BitAlyzer。新的Agilent BitAlyzer是**种使用AgilentInfiniium外观和操作方式的BER测试解决方案，提供带错误分析能力、高达3.6Gb/s的通用串行BER分析。细情况请参看第31页。
　　SpectralBER。AgilentSpectralBER是**种光元件测试解决方案，能很容易地适应各种制造战略。它能以OC-3,OC-12或OC-48速度测试各种光升／降复用器，光转发器，应答器和多通道系统。
　　71612B 12Gb/s 误差性能分析仪。您能用Agilent 71612B误差性能分析仪**评测系统、器件和元件。
　　71612B有很宽的测试范围，能覆盖光波元件和组件、先进计算机技术和高容量通信系统。

适用于**测试的辅助产品

　　86100A Infiniium 数字通信分析仪。 Agilent 86100有多种支持高达50GHz测量的插入模块，为您提供用于数字测试的多种功能工具集。可把它作为示波器评测信号参数，作为通信分析仪测量高速光信号或电信号眼图和脉冲参数，或作为时域反射计对传输线进行测试。
　　71501C抖动分析系统。Agilent71501C能对高速数字通信波形及产生波形的元件进行先进的抖动分析。71501C能在高至12Gb/s,低至50Mb/s的全范围内进行抖动测试。将71501C与86130ABitAlyzer，或与71612B 12Gb/s 错误性能分析仪组对，就构成**的抖动解决方案。

用业界*快的并行BER测试器加速产品投放市场和形成批量生产

　  并行测试至OC-768器件的灵活解决方案
　　可扩至64个并行输入和输出通道，速率高达2.67Gb/s
　　模块化设计使您能按特殊应用建立定制的解决方案。

有了ParBERT 81250，就能使用基于WindowsNT操作系统方便地设置测量

对高速元件进行高速BER测试

　　ParBERT81250能为电信元件，比如复用器／分离用器、前向错误校正器件和存储域网络IC（包括千兆位以太网、平板显示链路，光纤通道和Infiniband标准）提供世界上*快的并行BER测试。您将具有对这些器件进行**测试的工具，所包含的测量有建立和保持时间、传播延迟，以及BER与温度的关系。ParBERT81250提供芯片控制信号，分频或倍频时钟信号，使您能分析适于包括LVDS在内各种逻辑电路的单端、低压和差分信号。

强大、灵活的功能特性

　　ParBERT81250是基于VXI的仪器，具有极高的灵活性和可扩充性。可按您的特殊要求混合使用分析仪通道和发生器通道。它能产生伪随机字序列（PRWS）和高达231-1的标准PRBS，使用用户定义数据、PRBS或来自并行端口的混合数据分析误码率。

测试OC-48,-192和-768

　　使用ParBERT81250和样板器件，您就能对40千兆位器件进行并行的背对背测试。无需使用样板器件就可评测OC-48的性能特性。为不使用样板器件测试OC-192,要组合使用81250和71612B12Gb/s错误性能分析仪。我们已集成了帮助您测试新LVDS器件的各种资料；通过在www.agilent.com/find/bert的链接，您能找到上述资料，以及其它多种应用资料。

Agilent ParBERT 81250
  按您的特殊要求配置系统，起价为$70,000
E4890A 复用／分离测试，包括10个发生器及8个分析仪速率达667Mb/s
E4891A 高速测试，包括2个发生器及2个分析仪，速率达1.3Gb/s
E4892A 超高速测试，包括2个发生器及2个分析仪，速率达2.66Gb/s这些配置构成运行就绪的系统。 
选件012 2槽VXI总线PC
选件013 IEEE 1394 PC与VXI的链接

用内置的具有错误分析功能的BER测试器更快找到和纠正错误

用熟悉的图形方式简化BER测试和分析

　　Agilent 86130ABitAlyzer把操作简便和分析能力融于一体，使您能更快地对前向错误校正（FEC）器件、高速数字部件和系统，以及其它各种半导体部件进行测试和查找错误。
　　通过借用AgilentInfiniium示波器的外观和操作方法，86130使新用户能用较少的时间设置测量，用更多的展现方法观察结果。例如，为设置测试模式，只需从内装的库中选择工业标准模式，或按您的要求用简单的剪切和粘贴命令进行编辑。

提高设计效率的独特工具

　　86130A BitAlyzer使用SyntheSysResearch的**错误分析技术，帮助发现形成系统行为的原因。86130A分析工具能帮助您分析猝发错误、模式灵敏度、无错间隔时间、错误块、错误校正编码和错误关联。2-D错误映射选件使您能更深入理解系统行为。您也可用不同的交叠深度进行试验，以得到*大的吞吐率。
　　为得到更强的分析能力，可把86130与Agilent 86100A InfiniiumDCA联用,测量阻抗的不连续性和串扰,或使用眼图按规范进行分析验证。

强大的分析展现隐匿在错误事件间的关系

　　带有**错误分析的3.6Gb/s错误性质分析仪，提供对错误成因的洞察
　　基于Agilent Infiniium的用户界面简化了测量设置，能更快接入仪器的基本特性和**特性
　　**的波形形状保证了您能用*好的激励信号驱动器件

Agilent 86130A BitAlyzer

86130A BitAlyzer
选件100
2-D错误映射
选件200
错误校正编码分析
选件300
4GHz合成信号源