上市时间：2008年3月
**点
◎****的光斑可视系统（**技术):
Auto SE 集成了****的MyAutoView光斑可视系统（**技术），该系统配备在标准椭圆偏振光谱仪中,允许操作者全程观测样品光斑，以确保各种类型的样品都能在完全正确的位置，以合适的光斑尺寸进行测量。解决了现有测量技术中的“盲测”难题。
◎一键式操作，大大提高工作效率。
◎共焦微光斑技术： 提供8种不同光斑尺寸的自动选择。
◎全自动智能诊断及故障处理：大大减轻了设备的维护负担。
技术参数
光谱范围：440-858nm
光斑尺寸： 500 µm x 750 µm; 500 µm x 500 µm; 250 µm x 500 µm; 250 µm x 250 µm; 70 µm x 250 µm; 100 µm x 100 µm; 50 µm x 60 µm; 25 µm x 60 µm
测试时间：通常为5秒，*快可小于1秒
**度：NIST 1000 Å SiO2 /Si: d ± 4 Å - n(632.8 nm) ± 0.002， Fused silica: n ± 0.004
观测样品： CCD-视场范围1.33*1mm，分辨率1µm
重复性：± 0.2 Å (测试条件 NIST 150 Å SiO2 /Si )
样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节；真空检测；Z轴高度50mm
探测器：CCD-分辨率：2nm
测角仪：固定在70度，可预设为66度或者61.5度
主要特点
新型全自动薄膜测量分析工具，仅需几个按钮即可完成全自动测量和分析，仅几秒钟即可完成样品分析，并提供完整的样品薄膜堆叠特性报告：包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性。
其**技术的MyAutoView光斑可视系统，可保证用户每次都在**的位置进行测量，**定位样品上的测量区域，并具备独特的透明基底测量技术。
高性能系统：可自动装载和调整样品，自动样品成像，440到850纳米快速测量（<1秒）；可提供8种光斑尺寸的自动选择，并配有多种仪器附件以满足各种应用需要。
具有**的智能诊断功能：借助完整的操作向导，自动检测并诊断问题，对故障进行处理。该系统集成了标样的样品台，可随时对设备自动校准。该技术使仪器的维护变得非常简单。
仪器介绍
Auto SE是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具，仅需简单的几个按键操作，即可完成全自动测量和分析。仅几秒钟即可完成样品分析，并提供完整的样品堆叠特性报告-包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性。
Auto SE 是一种高性能系统，它包括XYZ自动样品台、测量点实时成像和光斑尺寸自动选择功能，其各种各样的附件可满足用户对多种应用的需求。Auto SE借助完整的操作向导，自动检测并诊断问题、同时提供完整的操作指南，实现对故障进行轻松处理。便捷的操作性能和大量自动化特性，使得 Auto SE 成为一种可用于常规薄膜测量和质量控制的理想设备。
2008年10月，该仪器一经上市，即获得 SEMICON Europa “2008 IC Industry New System Award”(2008 IC产业新产品奖)