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- 产品名称：偏光显微镜 XPN-300
- 产品型号：XPN-300
- 产品展商：其它品牌
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简单介绍
XPN-300偏光显微镜熔点仪、偏光温控仪是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校*常用的专业实验仪器。偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动 P、I、D调节，及模糊手动调
产品描述
一、用途：
XPN-300偏光显微镜熔点仪、偏光温控仪是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校*常用的专业实验仪器。偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，偏光熔点测定仪通过 LED显示温度值及设定温度值。
二、系统简介
偏光显微镜熔点仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机图像处理技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
三、技术参数：
1．目镜
类别 | 放大倍数 | 视场（mm） |
平场目镜 | 10X | φ22 |
十字目镜 | 10X | φ20 |
2．物镜
类别 | 放大倍数 | 数值孔径（NA） | 工作距离（mm） | 盖玻片厚度（mm） |
物?镜 | 4X | 0.10 | 7.18 | - |
10X | 0.25 | 4.70 | 0.17 |
40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 |
60X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍数：40X 100X 400X600X
系统放大倍数：40X-2600X
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22摇出式消色差聚光镜，中心可调
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调
7.补偿器：λ片（Ф18mm，**红，光程差551nm）
λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级）
8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm
9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调）
10.防霉：特有的防霉系统
四、偏光熔点测定仪
1.偏光熔点测定仪
在 20X 物镜下工作温度可达到*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数。
2.显微加热平台
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1起始温度室温工作区加热使用面积至少1X1cm工作区温度梯度不超过 ±0.1oC透光区域 2mm以上，可调显示温度与实际温度误差不超过± 0.2热台可以随载物台移动
熔点测定 温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的 20X、40X 物镜
五、系统组成
电脑型高精度偏光显微镜（XPN-300E）：1、显微镜2、熔点仪3、摄像器(CCD)
4、A/D(图像采集)5、计算机
数码相机型高精度偏光显微镜（XPN-300Z）：1、显微镜2、熔点仪3、数码相机
六、选购件
1、高像素成像系统2.偏光显微镜分析软件3.物镜：20X
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