偏光熔点测定仪XPN-203 偏光熔点测定仪、偏光显微镜熔点仪。XPN-203 系列偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业*常用的专业实验仪器。偏光熔点测定仪可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
一、用途
XPN-203 系列偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业*常用的专业实验仪器。偏光熔点测定仪可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，偏光熔点测定仪通过LED显示温度值及设定温度值，仪表显示
偏光显微镜热台XPN-203E 偏光显微镜热台XPN-203Z准确、清晰、稳定，对温度控制可设定程序，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温、控温装置。显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件。偏光显微镜热台具有可扩展性，可以接计算机和数码相机，对图片进行编辑、保存和打印。偏光熔点测定仪是一组具有较完备功能的新型产品。
二、系统简介
偏光熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机图像处理技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
三、技术参数：
1.目镜：
类 别 | 放大倍数 | 视场（mm） |
网格目镜 | 10X | φ18 |
十字目镜 | 10X | φ18 |
分划目镜 | 10X | φ18 |
2.物镜：
类 别 | 放大倍数 | 数值孔径（NA） | 工作距离（mm） | 盖玻片厚度（mm） |
物 镜 | 4X | 0.10 | 7.80 | - |
10X | 0.25 | 4.70 | - |
25X | 0.40 | 1.75 | 0.17 |
40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 |
63X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍数：40X-630X 系统放大倍数：40X-2600X。
4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调
5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路
6.检偏镜:可移出光路，旋转范围90°内置勃氏镜，中心、焦距可调
7.补偿器：λ片(φ18mm，**红，光程差551nm) λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级)
8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微调，格值为0.002mm
9.电光源：6V/20W卤素灯（亮度可调）
四、热台：
1.显微精密控温仪
在20X 物镜下工作温度可达到*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数。
2.显微加热平台
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于±0.1
起始温度室温
工作区加热使用面积至少1X1cm
工作区温度梯度不超过 ±0.1oC
透光区域2mm以上，可调
显示温度与实际温度误差不超过 ±0.2
热台可以随载物台移动
熔点测定 温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的20X、40X 物镜
五、系统组成
电脑型偏光热台（XPN-203E）：1、偏光显微镜2、热台3.摄像器(CCD)4.A/D(图像采集)5、计算机
数码型偏光热台（XPN-203Z）：1、偏光显微镜2、热台3、数码相机系统
六、选购件
1、高像素成像系统 2.偏光显微镜分析软件
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