HV-256 IC測試機係針對邏輯或混合訊號IC之測試需要而設計,可透過USB 2.0和PC連結,在優異的測試軟體環境ITE(Integrated Test Environment)下,提供工程開發、量產測試失敗分析及良率改善等功能。
本機支援TTL、GPIB、RS232等通訊介面,可與坊間元件分類機(如HI-LO HL-930等)或晶圓針測機(如 TSK Prober)連結,可對高達16個待測元件同時進行測試量產。
HV-256 IC測試機可進行DC、AC及功能性測試。256個測試通道可提供電壓表、電壓/電流檢測、恆壓、恆流源流出/流入、上拉/下拉電阻、主動負載、時間參數測量、並內建任意波形產生器及波形量化器等強大功能,媲美傳統ATE,提供高規格性價比。機台體積精簡,能因應待測IC特定需求,深具客製化之彈性。 主要特點
●100 MHz clock rate
●50 MHz data rate
●256 (8 x 32) 個測試通道
●PMU per pin 提供真正多顆IC並行測試
●1M+35M(FLASH)測試向量記憶體
●TMU可測量頻率/週期、傳輸延遲、設立/保持時間、上升/下降時間和訊號斜率等交流參數
●AWG可產生正弦波、方波、斜波或任意波
●Digitizer可擷取待測信號,藉由量化進行數值分析,並計算出各種參數
●測試完成後可進行燒錄動作
●透過 USB 2.0和PC連結
●支援通訊介面:TTL、GPIB、RS232
●測試軟體:ITE(Integrated Test Environment)
●支援作業系統:Windows XP / Windows Vista / Windows 7 (32-bit)
●測試語言:ANSI C語法
●軟體模式
■工程開發模式(Development Mode):編輯Pattern、設定AWG及編譯測試程式等等
■量產模式(Production Mode):進行量產的操作介面
■維修模式(Maintenance Mode):進行測試機的自我測試及校正
●程式設計者可先行在工程開發模式下進行相關設定
●生產人員可容易地透過量產模式圖形化的操作介面開始進行量產模式
●支援坊間元件分類機
●支援晶圓針測機
●測試彙總報告,可供工程人員進行測試失敗分析和良率改善
沪公网安备 31011202007724号