inTEST 高低温冲击热流仪 - 广东宏展科技有限公司

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	intest 热流仪 5G 通讯模块高低温冲击测试	5G 通讯模块具有传输速度快, 瞬间功率变化大, 自由运行时温度变化快速的特点, 因此对于温度测试方面有较多的等级要求. 针对 5G 模块温度测试, 美国 inTEST Temptronic 热流仪能够快速提供高低温测试环境, 方便移动, 测试温度范围 -100 °C 至 +300 °C , 满足测试不同温度下的 5G 模块性能表现, 极大节约了客户研发成本！
	inTEST 热流仪微处理器芯片高低温测试	在电子, 航空航天, 通讯实验等行业中, 对于使用的芯片有着严格的要求, 使用的芯片在严苛环境中能否正常工作, 可靠性如何, 成为重要的关注点, 而传统验证方法由于温度变化, 稳定速度慢和无法提供快速变化的温度环境, 很难满足相应的测试需要, 美国 inTEST 高低温测试机解决了传统验证方法缺陷问题, 提供快速高低温冲击能力.
	inTEST 热流仪 RF 射频芯片高低温冲击测试	射频芯片 RF chip 主要为手机等移动终端设备提供无线电磁波信号的发送和接收, 是进行蜂窝网络连接, Wi-Fi, 蓝牙, GPS 等无线通信功能所必需的核心模块. 全球射频市场处在一个高速发展的时代, 芯片和系统制造商需要相应的测试系统, 以确保射频芯片性能和合规性. 近日, 国内某射频功��放大器制造企业购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 给射频芯片提供 -80 至 +225 °C 快速准确的外部温度环境, 满足测试芯片性能的要求.
	inTEST 芯片高低温冲击测试	inTEST 冷热冲击机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等测试机联用, 进行芯片的高低温冲击测试. 实时监测芯片的真实温度，可随时调整冲击气流, 对测试机平台 load board 上的芯片进行快速温度循环冲击, 传统高低温箱无法针对此类测试.
	inTEST 热流仪集成电路 IC 卡高低温测试	集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。
	inTEST 热流仪半导体芯片高低温测试	美国 inTEST 高低温测试机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程机联用, 进行半导体芯片高低温测试. inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度满足半导体芯片的温度冲击和温度循环测试.
	inTEST 热流仪搭配压力机进行压力传感器 MENS 温度测试	压力传感器 MENS 是由微加工技术制备, 特征结构在微米尺度 1um~0.1mm 范围，集成有微传感器, 微致动器, 微电子信号处理与控制电路等部件的微型系统. 80%以上的 MENS 采用硅微工艺进行制作, 并且需要在特定压力之下快速进行不同温度点的性能测试.美国 inTEST 热流仪搭配压力机作为一种常用温度测试手段, 广泛应用于 MENS 性能测试.
	inTEST 热流仪腔体滤波器模块高低温测试	inTEST 热流仪腔体滤波器模块高低温测试腔体滤波器就是采用谐振腔体结构的微波滤波器. 一个腔体能够等效成电感并联电容, 从而形成一个谐振级, 实现微波滤波功能. 较之其他性质的微波滤波器而言, 腔体滤波器结构牢固, 性能稳定可靠, 体积更小, Q 值适中, 寄生通带较远且其散热性好. 因此在各大通信基站中腔体滤波器应用十分普遍. 某科技公司购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 给腔体滤波器提供 -80 至 +225 °C 快速准确的外部温度环境, 满足测试腔体滤波器性能的温度试验要求.
	inTEST 闪存 Flash/EMMC 高低温测试	inTEST - Temptronic 高低温循环测试机闪存温度测试应用：闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。
	100G 光模块高低温测试	inTEST ATS-710 应用于 100G 光模块高低温测试
	inTEST 热流仪通讯模块高低温测试	inTEST ATS-710 通讯模块高低温测试在通讯模块中,由于传输速率的不断增加, 在模块工作的时候, 很大程度会出现工作模块温度飙升的情况, 为了保障模块的正常运行, 需要进行通讯模块温度可靠性测试, 传统验证方法由于温度变化慢, 稳定速度差和无法提供快速变化的温度环境, 很难满足现今的测试需要, 美国 inTEST ThermoStream 高低温测试机解决了传统验证方法缺陷问题, 提供快速高低温冲击能力. 作为一种必要的测试手段辅助生产通讯模块.
	inTEST 热流仪半导体元器件高低温测试	inTEST Thermostream 高低温测试机应用于半导体元器件高低温测试半导体器件 semiconductor device, 是导电性介于良导电体与绝缘体之间, 利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件, 可用来产生, 控制, 接收, 变换, 放大信号和进行能量转换.
	inTEST ECO-560 经济型高低温测试机应用于研发 400G 光模块	inTEST ECO-560 高低温测试机成功应用于研发 400G 光模块可靠性测试.
	Sigma 高低温试验箱	美国 inTEST 旗下 Sigma 高低温试验箱, 提供标准型号和客制化型号供选择. Sigma 高低温冲击试验箱超过50年的温度试验箱设计经验, 提供各种尺寸形状的高低温腔体,测试温度范围 -185 至+500°C, 变温速率快, 满足各种应用.
	inTEST 热流仪照明级大功率 LED 器件封装高低温测试	美国 inTEST ThermoStream 高低温测试机广泛应用于照明级大功率LED器件,LED封装的可靠性测试.
	inTEST ECO-560 热流仪,高低温冲击测试机	美国 inTEST ECO-560 经济型高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -60 °C 至 +150 °C, 适用于对各类元件,零件, 混合件, 模块,子组件和 PCB 电路板进行快速和准确的温度冲击. 与其他热流仪相比, 占地面积更小, 占地面积减少多达 42%! 无需使用液氮 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 即可实现超低温.
	inTEST 热流仪 LED 液晶显示屏高低温冲击测试	美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击热流仪可与德国 AUTRONIC DMS 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试. 每个 DMS 系统都可以扩展一个适当的冷热系统, 以进行 LED 光学显示特性和一致性测试的温度相关测量.
	inTEST 热流仪 PCB 板电子芯片高低温测试	美国 inTEST 高低温循环测试机 ATS-545-M 应用于 PCB 板、电子芯片高低温测试。 PCB板、电子芯片在出厂前需要进行环境测试，模拟PCB板在气候环境下操作及储存的适应性，已确保其在极端环境下也可正常工作。
	inTEST 热流仪集成电路 IC 芯片高低温冲击测试	随着国家对半导体行业愈加重视, 国内各高校通过积极筹备半导体联合实验室等举措来推动集成电路的产业研究和人才教育的发展, 美国 inTEST ThermoStream热流仪提供清洁干燥的冷热循环冲击气流, 可达到快速精准的测试温度, 适合模拟各种温度测试和调节的应用, 获得高校普遍认可, 已广泛参与集成电路研发重点项目的研究.
	inTEST 热流仪触摸屏控制芯片高低温冲击测试	inTEST 热流仪触摸屏控制芯片高低温冲击测试：触摸屏控制芯片又称触摸屏芯片, 触控芯片, 属于半导体芯片一种, 广泛应用于如消费类电子, 家用电器, 车载触摸屏, 移动终端, 智能电网, 物联网等多个领域. 触控芯片的关键性能指标, 除响应速度, 抗电磁干扰, 防水等要求外, 芯片工作温度也要求非常高.

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