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成功案例

日本胜铁克SENTEC纳米级位移测量应用

日本胜铁克SENTEC纳米级位移测量应用

测量目的
测量纳米阶段的移动量
概要
作为在纳米舞台上放上零部件,使之运转了的时候的舞台的运动和零部件的运动的验证用,采用了Capa6500。
根据Capa6500系列有的,「0.0375nm」的高的分辨率,高精度的计测成为可能。
采用的产品

■使用传感器
控制器:Capa6500
传感器:CS05