ESD对产品的危害
1、静电的基本物理特性为：吸引或排斥，与大地有电位差，会产生放电电流。
2、静电吸附灰尘，降低元件绝缘电阻（缩短寿命）。
3、静电放电破坏，使元件受损不能工作（完全破坏）。
4、静电放电电场或电流产生热，使元件受伤（潜在损伤）。
5、静电放电产生的电磁场幅度很大（达几百伏/米）频谱极宽（从几十兆到几千兆），对电子产品造成干扰甚至损坏（电磁干扰）ESD引起的器件击穿，是电子工业*普遍，*严重的静电危害。
6、静电对电子产品损害的特点隐蔽性：人体不能直接感知静电，除非发生静电放电。人体也不一定能有电击的感觉，这是因为人体感知的静电放电电压为2~3KV，所以静电具有隐蔽性。
7、潜在性：有些电子元器件受到静电损伤后的性能没有明显的下降，但多次积累放电会给器件造成内伤而形成隐患。因此静电对器件的损伤具有潜在性。
8、随机性：电子元件什么情况下会遭受静电破坏呢？可以这么说，从一个元件产生以后，一直到它损坏以前，所有的过程都受到静电的威胁，而这些静电的产生也具有随机性，其损坏也具有随机性。
9、复杂性：静电放电损伤的实效分析工作，因电子产品的精，细，微小的结构特点而费时，费事，要求较高的技术并往往需要使用扫描电镜等高精密仪器。
入江贸易（沈阳）有限公司
ESD实验介绍
直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。对不同试验结果，可以根据该产品的工作条件和功能规范按以下内容分类：
A：技术要求范围内的性能正常；
B：功能暂时降低或丧失，但可自行恢复性能；
C：功能暂时降低或丧失，要求操作人员干预或系统复位；
D：由于设备（元件）或软件的损坏或数据的丧失，而造成不可恢复的功能降低或丧失。
符合A的产品，试验结果判合格。这意味着产品在整个试验过程中 功能正常，性能指标符合技术要求。
符合B的产品，试验结果应视其产品标准、产品使用说明书或者试验大纲的规定，当认为某些影响不重要时，可以判为合格。
符合C的产品，试验结果除了特殊情况并且不会造成危害以外，多数判为不合格。
符合D的产品判别为不合格。
符合B和C的产品试验报告中应写明B类或C类评判依据。符合B类应记录其丧失功能的时间。