日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备 RETS-100 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克...

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第8年

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简单介绍：

日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100

详情介绍：

相位差膜・光学材料检查设备 RETS-100 对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应

产品信息

特　点

• 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
• 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板
• **对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备

测量项目

• 封入cell gap
• twist角
• rubbing角
• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］
• 空cell gap
• 相位差（复折射相位差）的波长分散
• 光学轴
• 椭圆率/方位角
• 三次元折射率/Rth/β
• 分光光谱/色度

测量对象

• 液晶cell
-　透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）
-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
• 光学材料
-　其他（相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料）

仕　样

型号	RETS series
样品尺寸	20mm×20mm ～ *
cell gap测量范围	0.1μm ～数10μm
cell gap重复性	±0.005μm
检出器	多通道分光光度计
测量波长范围	400nm ～ 800nm
光学系透过用偏光子unit	偏光光学系消光比 10-5内置Gran-tomson prism（方解石）自动旋转（角度精度0.1°）、自动装卸机构
测量口径	φ2, φ5, φ10 (mm)
光轴倾斜机构	-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等