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  • 产品名称：日本大冢线扫描膜厚仪离线型

  • 产品型号：线扫描离线型
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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日本大冢线扫描膜厚仪离线型 日本大冢线扫描膜厚仪离线型 日本大冢线扫描膜厚仪离线型
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线扫描膜厚仪[离线型]

产品信息

特点

·**·高速·高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

·硬件·软件均为**设计

·作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援

·实现高精度测量（已取得砖利）

·实现高速测量（500万点以上/分）

式样

测量例

250mm宽的薄膜案例

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