非接触式光学膜厚仪 AT-1500 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克...

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第8年

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简单介绍：

非接触式光学膜厚仪AT-1500 非接触式光学膜厚仪AT-1500 非接触式光学膜厚仪AT-1500

详情介绍：

非接触式光学膜厚仪本设备操作简单，放置样品即可测量的。一步到位。

缩短检查工程，无标准曲线，精度高，分辨率高，轻松测量样品的**厚度。

光学方式为大冢电子**，不仅外形小巧，无论透明・粗糙还是易变形的样品，都可以实现非接触式的高精度测量。

产品信息

特长

式样

atsumispec(1).gif

构成图・原理

构成图

任何人都会测量

原理

将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)

比较测量方法

样品例子和测量方法的比较

		非接触光学膜厚仪	接触式膜厚仪	X线式膜厚仪	変位計
样品	凝胶片	○	×	○	○
	不织布	○	×	○	×
	金属板	○	○	○	○
	树脂	○	○	○	○
	多孔质	○	△	○	×
	陶瓷	○	○	○	×
	紙・木	○	○	○	×
测量条件	测量时间	○ 高速	○	○	○
	非接触测量	○ 非接触	×	○	○
	前处理	○ 不要	○	×	○