SANKO山高 X射线粒子检查装置ITX-S75DT 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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SANKO山高 X射线粒子检查装置ITX-S75DT SANKO山高 X射线粒子检查装置ITX-S75DT SANKO山高 X射线粒子检查装置ITX-S75DT

详情介绍：

ITX-S75DT

应用程序使用

产品规格

型号名称	ITX-S75DT	ITX-S65DT
拍摄方向	2个方向同时2个屏幕
检查范围	梯形下侧740 mm 上侧499 mm高度320 mm	梯形下侧645 毫米上侧433 毫米高度320毫米
检验项目长度	400毫米（鞋子，小件）~2200毫米（婚纱，长外套）
运输速度*	15米/分钟（10米/分钟）	15米/分钟（10米/分钟，20米/分钟）
皮带宽度	750毫米	650毫米
*低成像能力	SUS球Fai0.3㎜，SUS线ó0.2×2毫米的玻璃珠Fai1.0㎜，陶瓷球Fai1.6㎜
图像处理功能	边缘增强，LUT处理（与所提供的试验片设置），各种颜色显示，负正反转，即时局部放大图像滚动
**	X射线泄漏：1μSv/ h或更低（不需要许可证），带互锁机制
尺寸/重量（不包括patrites）	2010（W）×1930（H）×1102（D）㎜约850公斤	2010（W）x 1930（H）x 1002（D）mm 约830千克
电源	AC 100 V±10％50/60 Hz，1 kVA或更低（功耗）
使用环境	温度0至40°C，湿度30至85％非冷凝
选项	标签打印机，图像打印机（彩色喷墨，单色激光），该辊式输送机（各种），电动输送机（各种），附加的显示，工作表，左开型（订单在时间免费的对应），其他自定义

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产品名称：SANKO山高 X射线粒子检查装置ITX-S75DT