企业信息
第8年
- 入驻时间： 2017-03-06
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产品详情
简单介绍：
FE-3700
OTSUKA大冢-膜厚测量系统
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详情介绍：
FE-3700
OTSUKA大冢-膜厚测量系统
OTSUKA大冢-膜厚测量系统
特 長：
可以快速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数.。为大型玻璃基板(包括下一代尺寸)和LCD、TFT和有机EL提供支持。
OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700
用 途
-
LCD
ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass -
TFT
SiN/a-Si/Glass -
有機EL
有機EL/ITO/Glass -
PDP
誘電体層/Glass
