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OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器
是能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。
LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。
OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
特长
允许与生产线上的控制信号同步。
通过光纤实现自由测量系统。
支持*短2ms至2毫秒的光谱测量(LE-5400)。
测量、运算、评价的1个周期与以往产品相比半数以下的高速型也是系列产品。
※详细情况请与我们联系。15902189399
测量项目。
三刺激值(kX，kY，kZ)*(JIS Z 8724)。
色度坐标(u，v)(CIE 1960UCS)。
色度坐标(x，y)(JIS Z 8724)。
色度坐标(u‘，v’)(CIE 1976UCS)。
主波长(Dominant)和刺激纯度(JIS Z 8701)。
相关色温和Duv(JIS Z 8725)。
演色评分(Ra，R1-R15)(JIS Z 8726)。
峰值(λmax)的波长、高度、半宽。
**峰的波长和高度。
积分值(Summation)。
重心波长。
指定波长的高度。
比峰值波长短波长侧、长波长侧的积分值。
*亮度(kY)的值，在测量的LED和检测部的光学系统中不同，
仅当对齐(距离、位置、方向)具有重现性时才有效
| 型式 | LE series | |||
| タイプ | A | B | C | D |
| 演算波長範囲 | 380 ～ 960 nm | 300 ～ 800 nm | 330 ～ 1100 nm | 350 ～ 930 nm |
| 波長精度 *1 | ±0.3 nm＊2 | ±0.3 nm＊2 | ±0.5 nm＊2 | ±0.3 nm＊2 |
| 方式 | グレーティングによる分光測光方式 | |||
| 分光器 | F = 3, f = 135mm | |||
| グレーティング | ブレーズドホログラフィック型 | |||
| 検出器 | 電子冷却型CCDイメージセンサ | |||
| ファイバー *3 |
長さ約2 m, 口金直径約12 mm LEDとの距離：通常2 mm～8 mm程度（LEDの指向特性により異なる） |
|||
| 消費電力 | *大100 VA | |||
| 本体・重量 | 280（W）x 160（H）x 296（D）mm， 約10 kg | |||
*1 波長校正用光源の既知の輝線における確認値です。
*2 JIS Z 8724準拠
*3 形状、長さは変更可能です。
装置構成
